Plaque Lambda/4 Nikon P-CI QL1X (65466)

La plaque Nikon P-CI QL1X Lambda/4 est un accessoire optique conçu pour être utilisé en microscopie polarisante, notamment dans des domaines tels que la géologie, la minéralogie, la science des matériaux et la biologie. Cette plaque quart d'onde (λ/4) est insérée dans la fente du compensateur des microscopes polarisants Nikon compatibles pour introduire un décalage de phase spécifique entre les rayons ordinaires et extraordinaires dans un échantillon biréfringent. En modifiant l'état de polarisation de la lumière, la plaque améliore le contraste de l'image et permet aux utilisateurs d'observer les couleurs d'interférence et de mesurer des propriétés optiques telles que le retard et l'orientation. C'est un outil précieux pour l'analyse détaillée et les études quantitatives des matériaux anisotropes.

Utilisé dans les microscopes polarisants pour modifier l'état de polarisation de la lumière, permettant un contraste amélioré et une analyse détaillée des échantillons biréfringents.

Compatibilité :
S'adapte à la fente du compensateur ou de l'accessoire des microscopes polarisants Nikon, y compris les modèles tels que le SMZ1270 et le SMZ800N.

Caractéristiques principales :

• Introduit un décalage de phase quart d'onde (λ/4) entre les composants de polarisation orthogonaux

• Permet l'observation des couleurs d'interférence et la mesure du retard optique

• Utile pour déterminer l'orientation et les propriétés optiques des cristaux, minéraux et autres matériaux anisotropes

• Peut être combiné avec d'autres compensateurs pour une analyse de polarisation avancée

Applications :
Géologie et minéralogie pour l'identification des minéraux et la mesure de la biréfringence
Science des matériaux pour l'analyse des polymères, fibres et structures cristallines
Recherche et éducation en minéralogie optique et caractérisation des matériaux

Cette plaque est un accessoire essentiel pour la microscopie de polarisation avancée, offrant un contrôle précis de l'état de polarisation de la lumière et soutenant des mesures optiques précises d'une grande variété d'échantillons biréfringents.