Nikon P-CI QL1X placa Lambda/4 (65466)
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Nikon P-CI QL1X placa Lambda/4 (65466)

La placa Nikon P-CI QL1X Lambda/4 es un accesorio óptico diseñado para su uso en microscopía de polarización, especialmente en campos como la geología, la mineralogía, la ciencia de materiales y la biología. Esta placa de cuarto de onda (λ/4) se inserta en la ranura del compensador de los microscopios de polarización Nikon compatibles para introducir un desplazamiento de fase específico entre los rayos ordinarios y extraordinarios en una muestra birrefringente.

18313.04 Kč
Impuestos incluidos

14888.65 Kč Netto (non-EU countries)

Anatolii Livashevskyi
Gerente de producto
Ucrania / Polonia
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Descripción

La placa Nikon P-CI QL1X Lambda/4 es un accesorio óptico diseñado para su uso en microscopía de polarización, especialmente en campos como la geología, mineralogía, ciencia de materiales y biología. Esta placa de cuarto de onda (λ/4) se inserta en la ranura del compensador de microscopios polarizantes Nikon compatibles para introducir un desplazamiento de fase específico entre los rayos ordinarios y extraordinarios en una muestra birrefringente. Al alterar el estado de polarización de la luz, la placa mejora el contraste de la imagen y permite a los usuarios observar colores de interferencia y medir propiedades ópticas como la retardación y la orientación. Es una herramienta valiosa para el análisis detallado y estudios cuantitativos de materiales anisotrópicos.

 

Se utiliza en microscopios polarizantes para modificar el estado de polarización de la luz, permitiendo un mayor contraste y un análisis detallado de especímenes birrefringentes.

 

Compatibilidad:
Se ajusta a la ranura del compensador o accesorio de los microscopios polarizantes Nikon, incluidos modelos como el SMZ1270 y el SMZ800N.

 

Características Clave:

  • Introduce un desplazamiento de fase de cuarto de onda (λ/4) entre componentes de polarización ortogonales

  • Permite la observación de colores de interferencia y la medición de la retardación óptica

  • Útil para determinar la orientación y propiedades ópticas de cristales, minerales y otros materiales anisotrópicos

  • Puede combinarse con otros compensadores para un análisis avanzado de polarización

Aplicaciones:
Geología y mineralogía para identificación de minerales y medición de birrefringencia
Ciencia de materiales para análisis de polímeros, fibras y estructuras cristalinas
Investigación y educación en mineralogía óptica y caracterización de materiales

 

Esta placa es un accesorio esencial para la microscopía de polarización avanzada, proporcionando un control preciso sobre el estado de polarización de la luz y apoyando mediciones ópticas precisas de una amplia variedad de muestras birrefringentes.

Ficha técnica

4TFN698NL3

Permisos oficiales del Ministerio de Fomento y Tecnología

Nuestra empresa participa en la preparación de permisos oficiales del Ministerio polaco de Desarrollo y Tecnología, lo que nos permite exportar todos los drones, ópticas y radioteléfonos portátiles de doble uso sin IVA en el lado polaco y sin IVA en el lado ucraniano.