Nasza firma zajmuje się przygotowaniem oficjalnych zezwoleń Ministerstwa Rozwoju i Technologii, które pozwalają nam na eksport wszystkich dronów, optyki i radiotelefonów przenośnych podwójnego zastosowania bez podatku VAT po stronie polskiej / bez podatku VAT po stronie ukraińskiej.
Nikon P-CI QL1X płytka Lambda/4 (65466)
Płyta Nikon P-CI QL1X Lambda/4 to akcesorium optyczne zaprojektowane do użycia w mikroskopii polaryzacyjnej, szczególnie w dziedzinach takich jak geologia, mineralogia, nauka o materiałach i biologia. Ta ćwierćfalowa (λ/4) płyta jest wstawiana do szczeliny kompensatora kompatybilnych mikroskopów polaryzacyjnych Nikon, aby wprowadzić określoną zmianę fazy między promieniami zwykłymi i nadzwyczajnymi w próbce dwójłomnej.
27925.42 ₴ cena netto (non-EU countries)
Anatolij Liwaszewski
Menedżer produktu /
+48721808900 +48721808900
+48721808900
[email protected]
Opis
Płyta Nikon P-CI QL1X Lambda/4 to akcesorium optyczne zaprojektowane do użycia w mikroskopii polaryzacyjnej, szczególnie w dziedzinach takich jak geologia, mineralogia, nauka o materiałach i biologia. Ta ćwierćfalowa (λ/4) płyta jest wstawiana do szczeliny kompensatora kompatybilnych mikroskopów polaryzacyjnych Nikon, aby wprowadzić określoną zmianę fazy między promieniami zwykłymi i nadzwyczajnymi w próbce dwójłomnej. Poprzez zmianę stanu polaryzacji światła, płyta zwiększa kontrast obrazu i pozwala użytkownikom obserwować kolory interferencyjne oraz mierzyć właściwości optyczne, takie jak opóźnienie i orientacja. Jest to cenne narzędzie do szczegółowej analizy i ilościowych badań materiałów anizotropowych.
Używana w mikroskopach polaryzacyjnych do modyfikacji stanu polaryzacji światła, umożliwiając zwiększony kontrast i szczegółową analizę próbek dwójłomnych.
Kompatybilność:
Pasuje do szczeliny kompensatora lub akcesoriów mikroskopów polaryzacyjnych Nikon, w tym modeli takich jak SMZ1270 i SMZ800N.
Kluczowe cechy:
-
Wprowadza ćwierćfalową (λ/4) zmianę fazy między ortogonalnymi komponentami polaryzacji
-
Umożliwia obserwację kolorów interferencyjnych i pomiar opóźnienia optycznego
-
Przydatna do określania orientacji i właściwości optycznych kryształów, minerałów i innych materiałów anizotropowych
-
Może być łączona z innymi kompensatorami do zaawansowanej analizy polaryzacyjnej
Zastosowania:
Geologia i mineralogia do identyfikacji minerałów i pomiaru dwójłomności
Nauka o materiałach do analizy polimerów, włókien i struktur krystalicznych
Badania i edukacja w zakresie optycznej mineralogii i charakteryzacji materiałów
Ta płyta jest niezbędnym akcesorium do zaawansowanej mikroskopii polaryzacyjnej, zapewniając precyzyjną kontrolę nad stanem polaryzacji światła i wspierając dokładne pomiary optyczne szerokiej gamy próbek dwójłomnych.
Opis
Oficjalne zezwolenia Ministerstwa Rozwoju i Technologii
Nasza firma zajmuje się przygotowaniem oficjalnych zezwoleń Ministerstwa Rozwoju i Technologii, które pozwalają nam na eksport wszystkich dronów, optyki i radiotelefonów przenośnych podwójnego zastosowania bez podatku VAT po stronie polskiej / bez podatku VAT po stronie ukraińskiej.