Nikon P-CI QL1X płytka Lambda/4 (65466)
zoom_out_map
chevron_left chevron_right

Nasza firma zajmuje się przygotowaniem oficjalnych zezwoleń Ministerstwa Rozwoju i Technologii, które pozwalają nam na eksport wszystkich dronów, optyki i radiotelefonów przenośnych podwójnego zastosowania bez podatku VAT po stronie polskiej / bez podatku VAT po stronie ukraińskiej.

Nowy

Nikon P-CI QL1X płytka Lambda/4 (65466)

Płyta Nikon P-CI QL1X Lambda/4 to akcesorium optyczne zaprojektowane do użycia w mikroskopii polaryzacyjnej, szczególnie w dziedzinach takich jak geologia, mineralogia, nauka o materiałach i biologia. Ta ćwierćfalowa (λ/4) płyta jest wstawiana do szczeliny kompensatora kompatybilnych mikroskopów polaryzacyjnych Nikon, aby wprowadzić określoną zmianę fazy między promieniami zwykłymi i nadzwyczajnymi w próbce dwójłomnej.

34348.26 ₴
Z podatkiem VAT

27925.42 ₴ cena netto (non-EU countries)

Anatolij Liwaszewski
Menedżer produktu
Українська / Polski
+48721808900
+48721808900
Telegram +48721808900
[email protected]

Opis

Płyta Nikon P-CI QL1X Lambda/4 to akcesorium optyczne zaprojektowane do użycia w mikroskopii polaryzacyjnej, szczególnie w dziedzinach takich jak geologia, mineralogia, nauka o materiałach i biologia. Ta ćwierćfalowa (λ/4) płyta jest wstawiana do szczeliny kompensatora kompatybilnych mikroskopów polaryzacyjnych Nikon, aby wprowadzić określoną zmianę fazy między promieniami zwykłymi i nadzwyczajnymi w próbce dwójłomnej. Poprzez zmianę stanu polaryzacji światła, płyta zwiększa kontrast obrazu i pozwala użytkownikom obserwować kolory interferencyjne oraz mierzyć właściwości optyczne, takie jak opóźnienie i orientacja. Jest to cenne narzędzie do szczegółowej analizy i ilościowych badań materiałów anizotropowych.

 

Używana w mikroskopach polaryzacyjnych do modyfikacji stanu polaryzacji światła, umożliwiając zwiększony kontrast i szczegółową analizę próbek dwójłomnych.

 

Kompatybilność:
Pasuje do szczeliny kompensatora lub akcesoriów mikroskopów polaryzacyjnych Nikon, w tym modeli takich jak SMZ1270 i SMZ800N.

 

Kluczowe cechy:

  • Wprowadza ćwierćfalową (λ/4) zmianę fazy między ortogonalnymi komponentami polaryzacji

  • Umożliwia obserwację kolorów interferencyjnych i pomiar opóźnienia optycznego

  • Przydatna do określania orientacji i właściwości optycznych kryształów, minerałów i innych materiałów anizotropowych

  • Może być łączona z innymi kompensatorami do zaawansowanej analizy polaryzacyjnej

Zastosowania:
Geologia i mineralogia do identyfikacji minerałów i pomiaru dwójłomności
Nauka o materiałach do analizy polimerów, włókien i struktur krystalicznych
Badania i edukacja w zakresie optycznej mineralogii i charakteryzacji materiałów

 

Ta płyta jest niezbędnym akcesorium do zaawansowanej mikroskopii polaryzacyjnej, zapewniając precyzyjną kontrolę nad stanem polaryzacji światła i wspierając dokładne pomiary optyczne szerokiej gamy próbek dwójłomnych.

Opis

4TFN698NL3

Oficjalne zezwolenia Ministerstwa Rozwoju i Technologii

Nasza firma zajmuje się przygotowaniem oficjalnych zezwoleń Ministerstwa Rozwoju i Technologii, które pozwalają nam na eksport wszystkich dronów, optyki i radiotelefonów przenośnych podwójnego zastosowania bez podatku VAT po stronie polskiej / bez podatku VAT po stronie ukraińskiej.