Наша компанія бере участь у підготовці офіційних дозволів від Міністерства розвитку та технологій Польщі, які дозволяють нам експортувати всі дрони подвійного призначення, оптику та портативні радіотелефони без ПДВ з польської сторони / без ПДВ з української сторони.
Нікон P-CI QL1X Lambda/4 пластина (65466)
Пластина Nikon P-CI QL1X Lambda/4 є оптичним аксесуаром, призначеним для використання в поляризаційній мікроскопії, особливо в таких галузях, як геологія, мінералогія, матеріалознавство та біологія. Ця пластина чвертьхвильова (λ/4) вставляється в слот компенсатора сумісних поляризаційних мікроскопів Nikon, щоб ввести певний зсув фази між звичайними та незвичайними променями в двопроменезаломлюючому зразку.
668.78 $ ціна нетто (non-EU countries)
Анатолій Лівашевський
Менеджер по продукції /
+48721808900 +48721808900
+48721808900
[email protected]
Опис
Пластина Nikon P-CI QL1X Lambda/4 є оптичним аксесуаром, призначеним для використання в поляризаційній мікроскопії, особливо в таких галузях, як геологія, мінералогія, матеріалознавство та біологія. Ця чвертьхвильова (λ/4) пластина вставляється в слот компенсатора сумісних поляризаційних мікроскопів Nikon, щоб ввести певний фазовий зсув між звичайними та незвичайними променями в двопроменезаломлюючому зразку. Змінюючи стан поляризації світла, пластина підвищує контраст зображення і дозволяє користувачам спостерігати інтерференційні кольори та вимірювати оптичні властивості, такі як затримка та орієнтація. Це цінний інструмент для детального аналізу та кількісних досліджень анізотропних матеріалів.
Використовується в поляризаційних мікроскопах для зміни стану поляризації світла, що дозволяє підвищити контраст і провести детальний аналіз двопроменезаломлюючих зразків.
Сумісність:
Підходить для слота компенсатора або аксесуара поляризаційних мікроскопів Nikon, включаючи моделі, такі як SMZ1270 і SMZ800N.
Ключові особливості:
-
Вводить чвертьхвильовий (λ/4) фазовий зсув між ортогональними компонентами поляризації
-
Дозволяє спостерігати інтерференційні кольори та вимірювати оптичну затримку
-
Корисна для визначення орієнтації та оптичних властивостей кристалів, мінералів та інших анізотропних матеріалів
-
Може бути поєднана з іншими компенсаторами для розширеного аналізу поляризації
Застосування:
Геологія та мінералогія для ідентифікації мінералів та вимірювання двопроменезаломлення
Матеріалознавство для аналізу полімерів, волокон та кристалічних структур
Дослідження та освіта в оптичній мінералогії та характеристиці матеріалів
Ця пластина є важливим аксесуаром для розширеної поляризаційної мікроскопії, забезпечуючи точний контроль над станом поляризації світла та підтримуючи точні оптичні вимірювання різноманітних двопроменезаломлюючих зразків.
Характеристики
Офіційні дозволи Міністерства розвитку та технологій
Наша компанія бере участь у підготовці офіційних дозволів від Міністерства розвитку та технологій Польщі, які дозволяють нам експортувати всі дрони подвійного призначення, оптику та портативні радіотелефони без ПДВ з польської сторони / без ПДВ з української сторони.