Plaque Lambda/4 Nikon P2-CIA QL0.5X (65464)

La plaque Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 est un accessoire de quart d'onde spécialement conçu pour être utilisé avec l'illuminateur coaxial épi P2-CIA de Nikon et les stéréomicroscopes compatibles, tels que les SMZ25 et SMZ18. Cette plaque optique est utilisée en microscopie à lumière polarisée pour améliorer le contraste et révéler des caractéristiques détaillées dans des échantillons biréfringents ou réfléchissants. En introduisant un déphasage précis entre les ondes lumineuses orthogonales, la plaque permet des techniques de polarisation avancées, telles que l'observation des couleurs d'interférence et la conversion entre la lumière polarisée linéairement et circulairement. Cela en fait un outil précieux pour les applications en science des matériaux, géologie, électronique et contrôle qualité, où une analyse détaillée de la structure de surface et des propriétés optiques est requise.

Cette plaque de quart d'onde (λ/4) est utilisée pour introduire un déphasage de 90 degrés entre les composantes ordinaire et extraordinaire de la lumière polarisée, convertissant la lumière polarisée linéairement en lumière polarisée circulairement ou elliptiquement, et vice versa.

Compatibilité :
Conçu pour être utilisé avec l'illuminateur coaxial épi Nikon P2-CIA, et adapté aux stéréomicroscopes tels que les SMZ25 et SMZ18 lors de l'utilisation d'objectifs 0,5x ou 1x.

Caractéristiques principales :

• Fournit un retard de quart d'onde (λ/4) précis, généralement à 550 nm (lumière verte), pour des performances optimales dans les applications de lumière polarisée

• Améliore la capacité à observer les couleurs d'interférence et à analyser les différences de chemin optique dans les spécimens biréfringents

• Permet une évaluation qualitative et quantitative des propriétés optiques, telles que le retard et l'orientation, dans les matériaux

• Peut être utilisé pour éliminer les bandes d'extinction et améliorer la clarté de l'image lors de l'analyse de cristaux, minéraux, polymères et autres matériaux anisotropes

• Facilement inséré à un angle de 45 degrés par rapport au polariseur et à l'analyseur pour un fonctionnement correct

Applications :
Science des matériaux pour l'analyse des polymères, fibres et structures cristallines
Géologie et minéralogie pour l'identification des minéraux et la mesure de la biréfringence
Inspection électronique et des semi-conducteurs pour l'analyse de la structure de surface
Contrôle qualité et recherche nécessitant des techniques de polarisation avancées

Cette plaque est un accessoire essentiel pour quiconque effectue de la microscopie de polarisation avancée, offrant un contrôle précis de l'état de polarisation de la lumière et permettant une imagerie précise et à fort contraste d'une large gamme d'échantillons biréfringents et réfléchissants.