Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 ploča (65464)

Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 ploča je dodatak za četvrt valne ploče posebno dizajniran za korištenje s Nikonovim P2-CIA koaksijalnim epi iluminatorom i kompatibilnim stereo mikroskopima, kao što su SMZ25 i SMZ18. Ova optička ploča koristi se u mikroskopiji polarizirane svjetlosti za poboljšanje kontrasta i otkrivanje detaljnih značajki u dvolomnim ili reflektirajućim uzorcima. Uvođenjem preciznog faznog pomaka između ortogonalnih svjetlosnih valova, ploča omogućuje napredne tehnike polarizacije, kao što su promatranje interferencijskih boja i pretvorba između linearno i kružno polarizirane svjetlosti. To je čini vrijednim alatom za primjene u znanosti o materijalima, geologiji, elektronici i kontroli kvalitete, gdje je potrebna detaljna analiza površinske strukture i optičkih svojstava.

Ova četvrt valna (λ/4) ploča koristi se za uvođenje faznog pomaka od 90 stupnjeva između običnih i izvanrednih komponenti polarizirane svjetlosti, pretvarajući linearno polariziranu svjetlost u kružno ili eliptično polariziranu svjetlost i obrnuto.

Kompatibilnost:
Dizajnirana za korištenje s Nikon P2-CIA koaksijalnim epi iluminatorom, i prikladna za stereo mikroskope kao što su SMZ25 i SMZ18 kada se koriste objektivi od 0.5x ili 1x.

Ključne značajke:

• Pruža precizno kašnjenje četvrt valne duljine (λ/4), obično na 550 nm (zelena svjetlost), za optimalne performanse u primjenama polarizirane svjetlosti

• Poboljšava sposobnost promatranja interferencijskih boja i analize razlika u optičkom putu u dvolomnim uzorcima

• Omogućuje kvalitativnu i kvantitativnu procjenu optičkih svojstava, kao što su kašnjenje i orijentacija, u materijalima

• Može se koristiti za eliminaciju traka izumiranja i poboljšanje jasnoće slike pri analizi kristala, minerala, polimera i drugih anizotropnih materijala

• Jednostavno se umeće pod kutom od 45 stupnjeva prema polarizatoru i analizatoru za ispravan rad

Primjene:
Znanost o materijalima za analizu polimera, vlakana i kristalnih struktura
Geologija i mineralogija za identifikaciju minerala i mjerenje dvoloma
Inspekcija elektronike i poluvodiča za analizu površinske strukture
Kontrola kvalitete i istraživanje koje zahtijeva napredne tehnike polarizacije

Ova ploča je neophodan dodatak za svakoga tko provodi naprednu mikroskopiju polarizacije, nudeći preciznu kontrolu nad stanjem polarizacije svjetlosti i omogućujući točno, visokokontrastno snimanje širokog spektra dvolomnih i reflektirajućih uzoraka.