Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 plate (65464)

Pelat Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 adalah aksesori pelat seperempat gelombang yang dirancang khusus untuk digunakan dengan Nikon P2-CIA Coaxial Epi Illuminator dan mikroskop stereo yang kompatibel, seperti SMZ25 dan SMZ18. Pelat optik ini digunakan dalam mikroskopi cahaya terpolarisasi untuk meningkatkan kontras dan mengungkapkan fitur detail dalam sampel birefringent atau reflektif. Dengan memperkenalkan pergeseran fase yang tepat antara gelombang cahaya ortogonal, pelat ini memungkinkan teknik polarisasi lanjutan, seperti pengamatan warna interferensi dan konversi antara cahaya terpolarisasi linier dan sirkular. Ini menjadikannya alat yang berharga untuk aplikasi dalam ilmu material, geologi, elektronik, dan kontrol kualitas, di mana analisis mendetail dari struktur permukaan dan sifat optik diperlukan.

Pelat seperempat gelombang (λ/4) ini digunakan untuk memperkenalkan pergeseran fase 90 derajat antara komponen biasa dan luar biasa dari cahaya terpolarisasi, mengubah cahaya terpolarisasi linier menjadi cahaya terpolarisasi sirkular atau elips, dan sebaliknya.

Kompatibilitas:
Dirancang untuk digunakan dengan Nikon P2-CIA Coaxial Epi Illuminator, dan cocok untuk mikroskop stereo seperti SMZ25 dan SMZ18 saat menggunakan lensa objektif 0.5x atau 1x.

Fitur Utama:

• Menyediakan retardasi seperempat panjang gelombang (λ/4) yang tepat, biasanya pada 550 nm (cahaya hijau), untuk kinerja optimal dalam aplikasi cahaya terpolarisasi

• Meningkatkan kemampuan untuk mengamati warna interferensi dan menganalisis perbedaan jalur optik dalam spesimen birefringent

• Memungkinkan penilaian kualitatif dan kuantitatif dari sifat optik, seperti retardasi dan orientasi, dalam material

• Dapat digunakan untuk menghilangkan pita kepunahan dan meningkatkan kejernihan gambar saat menganalisis kristal, mineral, polimer, dan material anisotropik lainnya

• Mudah dimasukkan pada sudut 45 derajat terhadap polarisator dan analisator untuk operasi yang benar

Aplikasi:
Ilmu material untuk menganalisis polimer, serat, dan struktur kristal
Geologi dan mineralogi untuk identifikasi mineral dan pengukuran birefringence
Inspeksi elektronik dan semikonduktor untuk analisis struktur permukaan
Kontrol kualitas dan penelitian yang memerlukan teknik polarisasi lanjutan

Pelat ini adalah aksesori penting bagi siapa saja yang melakukan mikroskopi polarisasi lanjutan, menawarkan kontrol yang tepat atas keadaan polarisasi cahaya dan memungkinkan pencitraan yang akurat dan kontras tinggi dari berbagai sampel birefringent dan reflektif.