Nikon P2-CIA QL0.5X Piastra Lambda/4 (65464)

La piastra Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 è un accessorio a quarto d'onda specificamente progettato per l'uso con l'illuminatore epi coassiale P2-CIA di Nikon e microscopi stereo compatibili, come l'SMZ25 e l'SMZ18. Questa piastra ottica è utilizzata nella microscopia a luce polarizzata per migliorare il contrasto e rivelare caratteristiche dettagliate in campioni birifrangenti o riflettenti. Introducendo uno spostamento di fase preciso tra onde luminose ortogonali, la piastra consente tecniche di polarizzazione avanzate, come l'osservazione di colori di interferenza e la conversione tra luce polarizzata linearmente e circolarmente. Questo la rende uno strumento prezioso per applicazioni in scienza dei materiali, geologia, elettronica e controllo qualità, dove è richiesta un'analisi dettagliata della struttura superficiale e delle proprietà ottiche.

Questa piastra a quarto d'onda (λ/4) è utilizzata per introdurre uno spostamento di fase di 90 gradi tra le componenti ordinarie e straordinarie della luce polarizzata, convertendo la luce polarizzata linearmente in luce polarizzata circolarmente o ellitticamente, e viceversa.

Compatibilità:
Progettata per l'uso con l'illuminatore epi coassiale Nikon P2-CIA, e adatta per microscopi stereo come l'SMZ25 e l'SMZ18 quando si utilizzano obiettivi 0.5x o 1x.

Caratteristiche principali:

• Fornisce una ritardazione precisa di un quarto d'onda (λ/4), tipicamente a 550 nm (luce verde), per prestazioni ottimali in applicazioni a luce polarizzata

• Migliora la capacità di osservare i colori di interferenza e analizzare le differenze di percorso ottico in campioni birifrangenti

• Consente una valutazione qualitativa e quantitativa delle proprietà ottiche, come ritardazione e orientamento, nei materiali

• Può essere utilizzata per eliminare bande di estinzione e migliorare la chiarezza dell'immagine durante l'analisi di cristalli, minerali, polimeri e altri materiali anisotropi

• Facilmente inseribile ad un angolo di 45 gradi rispetto al polarizzatore e all'analizzatore per un corretto funzionamento

Applicazioni:
Scienza dei materiali per l'analisi di polimeri, fibre e strutture cristalline
Geologia e mineralogia per l'identificazione dei minerali e la misurazione della birifrangenza
Ispezione elettronica e dei semiconduttori per l'analisi della struttura superficiale
Controllo qualità e ricerca che richiedono tecniche di polarizzazione avanzate

Questa piastra è un accessorio essenziale per chiunque esegua microscopia a polarizzazione avanzata, offrendo un controllo preciso sullo stato di polarizzazione della luce e consentendo un'imaging accurato e ad alto contrasto di una vasta gamma di campioni birifrangenti e riflettenti.