Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 plokštelė (65464)

Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 plokštelė yra ketvirčio bangos plokštelės priedas, specialiai sukurtas naudoti su Nikon P2-CIA koaksialiniu epi apšvietimu ir suderinamais stereo mikroskopais, tokiais kaip SMZ25 ir SMZ18. Ši optinė plokštelė naudojama poliarizuotos šviesos mikroskopijoje, siekiant padidinti kontrastą ir atskleisti detalias savybes dvikrypčiuose arba atspindinčiuose mėginiuose. Įvedant tikslų fazės poslinkį tarp ortogonalių šviesos bangų, plokštelė leidžia naudoti pažangias poliarizacijos technikas, tokias kaip interferencinių spalvų stebėjimas ir linijinės bei apskritiminės poliarizuotos šviesos konvertavimas. Tai daro ją vertingu įrankiu medžiagų moksle, geologijoje, elektronikoje ir kokybės kontrolėje, kur reikalinga detali paviršiaus struktūros ir optinių savybių analizė.

Ši ketvirčio bangos (λ/4) plokštelė naudojama įvesti 90 laipsnių fazės poslinkį tarp įprastų ir neįprastų poliarizuotos šviesos komponentų, konvertuojant linijinę poliarizuotą šviesą į apskritiminę arba elipsinę poliarizuotą šviesą ir atvirkščiai.

Suderinamumas:
Sukurta naudoti su Nikon P2-CIA koaksialiniu epi apšvietimu ir tinkama stereo mikroskopams, tokiems kaip SMZ25 ir SMZ18, naudojant 0.5x arba 1x objektyvus.

Pagrindinės savybės:

• Suteikia tikslų ketvirčio bangos ilgio (λ/4) vėlavimą, paprastai 550 nm (žalioje šviesoje), optimaliam veikimui poliarizuotos šviesos taikymuose

• Pagerina gebėjimą stebėti interferencines spalvas ir analizuoti optinio kelio skirtumus dvikrypčiuose mėginiuose

• Leidžia kokybiškai ir kiekybiškai vertinti optines savybes, tokias kaip vėlavimas ir orientacija, medžiagose

• Gali būti naudojama pašalinti išnykimo juostas ir pagerinti vaizdo aiškumą analizuojant kristalus, mineralus, polimerus ir kitas anizotropines medžiagas

• Lengvai įstatoma 45 laipsnių kampu į poliarizatorių ir analizatorių, kad būtų užtikrintas teisingas veikimas

Pritaikymas:
Medžiagų mokslas polimerų, pluoštų ir kristalinių struktūrų analizei
Geologija ir mineralogija mineralų identifikavimui ir dvikrypčio lūžio matavimui
Elektronikos ir puslaidininkių patikra paviršiaus struktūros analizei
Kokybės kontrolė ir tyrimai, reikalaujantys pažangių poliarizacijos technikų

Ši plokštelė yra esminis priedas visiems, atliekantiems pažangią poliarizacijos mikroskopiją, siūlanti tikslų šviesos poliarizacijos būsenos valdymą ir leidžianti tikslų, aukšto kontrasto vaizdavimą įvairių dvikrypčių ir atspindinčių mėginių.