Nikon P2-CIA QL0.5X placa Lambda/4 (65464)
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Nikon P2-CIA QL0.5X placa Lambda/4 (65464)

La placa Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 es un accesorio de cuarto de onda diseñado específicamente para su uso con el Iluminador Epi Coaxial P2-CIA de Nikon y microscopios estereoscópicos compatibles, como el SMZ25 y el SMZ18. Esta placa óptica se utiliza en microscopía de luz polarizada para mejorar el contraste y revelar características detalladas en muestras birrefringentes o reflectantes.

655.71 £
Impuestos incluidos

533.1 £ Netto (non-EU countries)

Anatolii Livashevskyi
Gerente de producto
Ucrania / Polonia
+48721808900
+48721808900
Telegrama+48721808900
[email protected]

Descripción

La placa Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 es un accesorio de cuarto de onda diseñado específicamente para su uso con el Iluminador Epi Coaxial P2-CIA de Nikon y microscopios estereoscópicos compatibles, como el SMZ25 y el SMZ18. Esta placa óptica se utiliza en microscopía de luz polarizada para mejorar el contraste y revelar características detalladas en muestras birrefringentes o reflectantes. Al introducir un desplazamiento de fase preciso entre ondas de luz ortogonales, la placa permite técnicas avanzadas de polarización, como la observación de colores de interferencia y la conversión entre luz polarizada lineal y circularmente. Esto la convierte en una herramienta valiosa para aplicaciones en ciencia de materiales, geología, electrónica y control de calidad, donde se requiere un análisis detallado de la estructura de la superficie y las propiedades ópticas.

 

Esta placa de cuarto de onda (λ/4) se utiliza para introducir un desplazamiento de fase de 90 grados entre los componentes ordinario y extraordinario de la luz polarizada, convirtiendo la luz polarizada linealmente en luz polarizada circular o elípticamente, y viceversa.

 

Compatibilidad:
Diseñada para su uso con el Iluminador Epi Coaxial P2-CIA de Nikon, y adecuada para microscopios estereoscópicos como el SMZ25 y el SMZ18 al usar objetivos de 0.5x o 1x.

 

Características Clave:

  • Proporciona una retardación precisa de un cuarto de longitud de onda (λ/4), típicamente a 550 nm (luz verde), para un rendimiento óptimo en aplicaciones de luz polarizada

  • Mejora la capacidad de observar colores de interferencia y analizar diferencias de camino óptico en especímenes birrefringentes

  • Permite la evaluación cualitativa y cuantitativa de propiedades ópticas, como la retardación y la orientación, en materiales

  • Puede usarse para eliminar bandas de extinción y mejorar la claridad de la imagen al analizar cristales, minerales, polímeros y otros materiales anisotrópicos

  • Se inserta fácilmente en un ángulo de 45 grados con respecto al polarizador y analizador para un funcionamiento correcto

Aplicaciones:
Ciencia de materiales para analizar polímeros, fibras y estructuras cristalinas
Geología y mineralogía para identificación de minerales y medición de birrefringencia
Inspección de electrónica y semiconductores para análisis de estructura de superficie
Control de calidad e investigación que requieren técnicas avanzadas de polarización

 

Esta placa es un accesorio esencial para cualquiera que realice microscopía de polarización avanzada, ofreciendo un control preciso sobre el estado de polarización de la luz y permitiendo una imagen precisa y de alto contraste de una amplia gama de muestras birrefringentes y reflectantes.

Ficha técnica

XX9KIR9WLL

Permisos oficiales del Ministerio de Fomento y Tecnología

Nuestra empresa participa en la preparación de permisos oficiales del Ministerio polaco de Desarrollo y Tecnología, lo que nos permite exportar todos los drones, ópticas y radioteléfonos portátiles de doble uso sin IVA en el lado polaco y sin IVA en el lado ucraniano.