Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 -levy (65463)

Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 -levy on neljännesaallon levy, joka on suunniteltu käytettäväksi Nikonin P2-CIA koaksiaalisen valonlähteen kanssa stereomikroskoopeissa, kuten SMZ25 ja SMZ18. Tätä optista levyä käytetään polarisoidun valon mikroskopiassa kontrastin parantamiseen ja hienojen yksityiskohtien paljastamiseen kaksitaitteisissa tai heijastavissa näytteissä. Levy mahdollistaa edistyneet polarisaatiotekniikat, kuten interferenssivärien tarkkailun ja lineaarisen ja pyöreän polarisaation välisen muuntamisen, tuomalla tarkan vaihe-eron polarisoidun valon ortogonaalisten komponenttien välille. Se on erityisen arvokas materiaalitieteessä, geologiassa, elektroniikassa ja laadunvalvonnassa, joissa tarvitaan yksityiskohtaista pintaanalyysiä ja optisten ominaisuuksien arviointia.

Tämä neljännesaallon (λ/4) levy aiheuttaa 90 asteen vaihe-eron tavallisten ja poikkeuksellisten säteiden välillä polarisoidussa valossa, mahdollistaen lineaarisen ja pyöreän polarisoidun valon välisen muuntamisen.

Yhteensopivuus:
Suunniteltu käytettäväksi Nikon P2-CIA koaksiaalisen valonlähteen kanssa, ja yhteensopiva stereomikroskooppien, kuten SMZ25 ja SMZ18, kanssa, tyypillisesti käytettäessä 1x objektiiveja.

Keskeiset ominaisuudet:

• Tarjoaa tarkan neljännesaallon (λ/4) viiveen, yleensä optimoitu 550 nm (vihreälle valolle)

• Parantaa interferenssivärien näkyvyyttä ja mahdollistaa optisten polkuerojen analysoinnin kaksitaitteisissa materiaaleissa

• Mahdollistaa sekä kvalitatiivisen että kvantitatiivisen arvioinnin optisista ominaisuuksista, kuten viiveestä ja orientaatiosta

• Hyödyllinen sammutuskaistojen poistamiseen ja kuvan selkeyden parantamiseen kristallien, mineraalien, polymeerien ja muiden anisotrooppisten näytteiden tutkimuksessa

• Helposti asetettavissa 45 asteen kulmaan polarisaattoriin ja analysaattoriin nähden oikean toiminnan varmistamiseksi

Sovellukset:
Materiaalitiede kuitujen, polymeerien ja kiteisten rakenteiden analysointiin
Geologia ja mineralogia mineraalien tunnistamiseen ja kaksitaitteisuuden mittaamiseen
Elektroniikka ja puolijohteiden tarkastus yksityiskohtaiseen pintaanalyysiin
Laadunvalvonta ja tutkimus edistyneitä polarisaatiotekniikoita hyödyntäen

Tämä levy on olennainen työkalu kaikille, jotka suorittavat edistynyttä polarisaatiomikroskopiaa, tarjoten tarkan hallinnan valon polarisaatiotilasta ja tukien korkean kontrastin, tarkkaa kuvantamista laajalle valikoimalle kaksitaitteisia ja heijastavia näytteitä.