Nikon P2-CIA QL1X πλάκα Lambda/4 (65463)

Η πλάκα Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 είναι ένα εξάρτημα τετάρτου κύματος σχεδιασμένο για χρήση με τον Συνεστιακό Φωτιστή Συνεστραμμένου Φωτός της Nikon P2-CIA σε στερεοσκοπικά μικροσκόπια όπως τα SMZ25 και SMZ18. Αυτή η οπτική πλάκα χρησιμοποιείται στη μικροσκοπία πολωμένου φωτός για να ενισχύσει την αντίθεση και να αποκαλύψει λεπτομέρειες σε δειγματοληπτικά ή ανακλαστικά δείγματα. Με την εισαγωγή μιας ακριβούς μετατόπισης φάσης μεταξύ ορθογώνιων συνιστωσών του πολωμένου φωτός, η πλάκα επιτρέπει προηγμένες τεχνικές πόλωσης, όπως η παρατήρηση χρωμάτων παρεμβολής και η μετατροπή μεταξύ γραμμικής και κυκλικής πόλωσης. Είναι ιδιαίτερα πολύτιμη στις επιστήμες υλικών, τη γεωλογία, τα ηλεκτρονικά και τον ποιοτικό έλεγχο, όπου απαιτείται λεπτομερής ανάλυση επιφάνειας και αξιολόγηση οπτικών ιδιοτήτων.

Αυτή η πλάκα τετάρτου κύματος (λ/4) εισάγει μια μετατόπιση φάσης 90 μοιρών μεταξύ των κανονικών και εξαιρετικών ακτίνων στο πολωμένο φως, επιτρέποντας τη μετατροπή μεταξύ γραμμικά και κυκλικά πολωμένου φωτός.

Συμβατότητα:
Σχεδιασμένη για χρήση με τον Συνεστιακό Φωτιστή Συνεστραμμένου Φωτός της Nikon P2-CIA, και συμβατή με στερεοσκοπικά μικροσκόπια όπως τα SMZ25 και SMZ18, συνήθως όταν χρησιμοποιούνται αντικειμενικοί φακοί 1x.

Κύρια Χαρακτηριστικά:

• Παρέχει ακριβή καθυστέρηση τετάρτου μήκους κύματος (λ/4), συνήθως βελτιστοποιημένη για 550 nm (πράσινο φως)

• Ενισχύει την ορατότητα των χρωμάτων παρεμβολής και επιτρέπει την ανάλυση των διαφορών οπτικής διαδρομής σε δειγματοληπτικά υλικά

• Επιτρέπει τόσο ποιοτική όσο και ποσοτική αξιολόγηση των οπτικών ιδιοτήτων όπως η καθυστέρηση και ο προσανατολισμός

• Χρήσιμη για την εξάλειψη των ζωνών εξαφάνισης και τη βελτίωση της καθαρότητας της εικόνας στη μελέτη κρυστάλλων, ορυκτών, πολυμερών και άλλων ανισοτροπικών δειγμάτων

• Εύκολα εισάγεται σε γωνία 45 μοιρών προς τον πολωτή και τον αναλυτή για σωστή λειτουργία

Εφαρμογές:
Επιστήμη υλικών για ανάλυση ινών, πολυμερών και κρυσταλλικών δομών
Γεωλογία και ορυκτολογία για αναγνώριση ορυκτών και μέτρηση δειγματοληψίας
Επιθεώρηση ηλεκτρονικών και ημιαγωγών για λεπτομερή ανάλυση επιφάνειας
Ποιοτικός έλεγχος και έρευνα που περιλαμβάνει προηγμένες τεχνικές πόλωσης

Αυτή η πλάκα είναι ένα απαραίτητο εργαλείο για οποιονδήποτε εκτελεί προηγμένη μικροσκοπία πόλωσης, παρέχοντας ακριβή έλεγχο της κατάστασης πόλωσης του φωτός και υποστηρίζοντας υψηλής αντίθεσης, ακριβή απεικόνιση μιας ευρείας γκάμας δειγματοληπτικών και ανακλαστικών δειγμάτων.