Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 plaat (65463)

Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 plaat on veerandlaine plaat, mis on mõeldud kasutamiseks koos Nikoni P2-CIA koaksiaalse pealelangeva valguse valgustiga stereomikroskoopidel nagu SMZ25 ja SMZ18. Seda optilist plaati kasutatakse polariseeritud valguse mikroskoopias kontrasti suurendamiseks ja peente detailide esiletoomiseks kaheksmurdumismaterjalides või peegeldavates proovides. Plaat tekitab täpse faasinihke polariseeritud valguse ortogonaalsete komponentide vahel, võimaldades täiustatud polariseerimistehnikaid, nagu interferentsivärvide vaatlemine ja lineaarse ning ringpolariseeritud valguse vahel konverteerimine. See on eriti väärtuslik materjaliteaduses, geoloogias, elektroonikas ja kvaliteedikontrollis, kus on vaja detailset pinnanalüüsi ja optiliste omaduste hindamist.

See veerandlaine (λ/4) plaat tekitab 90-kraadise faasinihke tavaliste ja erakordsete kiirte vahel polariseeritud valguses, võimaldades lineaarse ja ringpolariseeritud valguse vahel konverteerimist.

Ühilduvus:
Mõeldud kasutamiseks koos Nikon P2-CIA koaksiaalse pealelangeva valguse valgustiga ja ühilduv stereomikroskoopidega nagu SMZ25 ja SMZ18, tavaliselt 1x objektiivide kasutamisel.

Põhijooned:

• Pakub täpset veerandlaine (λ/4) viivitust, tavaliselt optimeeritud 550 nm (roheline valgus) jaoks

• Parandab interferentsivärvide nähtavust ja võimaldab kaheksmurdumismaterjalide optiliste teepikkuste erinevuste analüüsi

• Võimaldab nii kvalitatiivset kui ka kvantitatiivset optiliste omaduste, nagu viivitus ja orientatsioon, hindamist

• Kasulik kustutusvööndite kõrvaldamiseks ja pildikvaliteedi parandamiseks kristallide, mineraalide, polümeeride ja teiste anisotroopsete proovide uurimisel

• Lihtne sisestada 45-kraadise nurga all polarisaatori ja analüsaatori suhtes korrektseks toimimiseks

Rakendused:
Materjaliteadus kiudude, polümeeride ja kristallstruktuuride analüüsimiseks
Geoloogia ja mineraloogia mineraalide tuvastamiseks ja kaheksmurdumise mõõtmiseks
Elektroonika ja pooljuhtide kontroll detailseks pinnanalüüsiks
Kvaliteedikontroll ja uurimistöö, mis hõlmab täiustatud polariseerimistehnikaid

See plaat on hädavajalik tööriist kõigile, kes teostavad täiustatud polariseeritud mikroskoopiat, pakkudes täpset kontrolli valguse polariseeritud oleku üle ja toetades kõrge kontrastsusega, täpset kujutist laia valiku kaheksmurdumis- ja peegeldavate proovide puhul.