Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 plate (65463)

Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 plate adalah aksesori pelat seperempat gelombang yang dirancang untuk digunakan dengan Nikon P2-CIA Coaxial Incident Light Illuminator pada mikroskop stereo seperti SMZ25 dan SMZ18. Pelat optik ini digunakan dalam mikroskopi cahaya terpolarisasi untuk meningkatkan kontras dan mengungkapkan detail halus pada spesimen birefringent atau reflektif. Dengan memperkenalkan pergeseran fase yang tepat antara komponen ortogonal dari cahaya terpolarisasi, pelat ini memungkinkan teknik polarisasi lanjutan, seperti mengamati warna interferensi dan mengonversi antara polarisasi linier dan sirkular. Ini sangat berharga dalam ilmu material, geologi, elektronik, dan kontrol kualitas, di mana analisis permukaan yang detail dan penilaian sifat optik diperlukan.

Pelat seperempat gelombang (λ/4) ini memperkenalkan pergeseran fase 90 derajat antara sinar biasa dan luar biasa dalam cahaya terpolarisasi, memungkinkan konversi antara cahaya terpolarisasi linier dan sirkular.

Kompatibilitas:
Dirancang untuk digunakan dengan Nikon P2-CIA Coaxial Incident Light Illuminator, dan kompatibel dengan mikroskop stereo seperti SMZ25 dan SMZ18, biasanya saat menggunakan lensa objektif 1x.

Fitur Utama:

• Menyediakan retardasi seperempat panjang gelombang (λ/4) yang presisi, biasanya dioptimalkan untuk 550 nm (cahaya hijau)

• Meningkatkan visibilitas warna interferensi dan memungkinkan analisis perbedaan jalur optik pada bahan birefringent

• Memungkinkan evaluasi kualitatif dan kuantitatif dari sifat optik seperti retardasi dan orientasi

• Berguna untuk menghilangkan pita kepunahan dan meningkatkan kejernihan gambar dalam studi kristal, mineral, polimer, dan sampel anisotropik lainnya

• Mudah dimasukkan pada sudut 45 derajat ke polarisator dan analisator untuk fungsi yang benar

Aplikasi:
Ilmu material untuk menganalisis serat, polimer, dan struktur kristal
Geologi dan mineralogi untuk identifikasi mineral dan pengukuran birefringence
Inspeksi elektronik dan semikonduktor untuk analisis permukaan yang detail
Kontrol kualitas dan penelitian yang melibatkan teknik polarisasi lanjutan

Pelat ini adalah alat penting bagi siapa saja yang melakukan mikroskopi polarisasi lanjutan, menyediakan kontrol presisi atas keadaan polarisasi cahaya dan mendukung pencitraan kontras tinggi yang akurat dari berbagai sampel birefringent dan reflektif.