ניקון P2-CIA QL1X לוחית למבדה/4 (65463)

פלטת Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 היא אביזר פלטת רבע גל המיועדת לשימוש עם מאיר האור הקואקסיאלי של Nikon P2-CIA במיקרוסקופים סטריאוסקופיים כמו SMZ25 ו-SMZ18. פלטה אופטית זו משמשת במיקרוסקופיה של אור מקוטב כדי לשפר את הניגודיות ולחשוף פרטים עדינים בדגימות דו-שבירות או מחזירות אור. על ידי הכנסת שינוי פאזה מדויק בין רכיבים אורתוגונליים של אור מקוטב, הפלטה מאפשרת טכניקות קיטוב מתקדמות, כגון צפייה בצבעי התאבכות והמרה בין קיטוב ליניארי ומעגלי. היא בעלת ערך במיוחד במדעי החומרים, גיאולוגיה, אלקטרוניקה ובקרת איכות, כאשר נדרשת ניתוח פני שטח מפורט והערכת תכונות אופטיות.

פלטת רבע גל (λ/4) זו מכניסה שינוי פאזה של 90 מעלות בין הקרניים הרגילות והיוצאות דופן באור מקוטב, ומאפשרת המרה בין אור מקוטב ליניארי ומעגלי.

תאימות:
מיועדת לשימוש עם מאיר האור הקואקסיאלי של Nikon P2-CIA, ותואמת למיקרוסקופים סטריאוסקופיים כמו SMZ25 ו-SMZ18, בדרך כלל בשימוש עם אובייקטיבים של 1x.

תכונות עיקריות:

• מספקת עיכוב מדויק של רבע אורך גל (λ/4), בדרך כלל מותאם ל-550 ננומטר (אור ירוק)

• משפרת את הנראות של צבעי התאבכות ומאפשרת ניתוח של הבדלי מסלול אופטי בחומרים דו-שבירים

• מאפשרת הערכה איכותית וכמותית של תכונות אופטיות כמו עיכוב וכיוון

• שימושית לביטול רצועות הכחדה ושיפור בהירות התמונה במחקר של גבישים, מינרלים, פולימרים ודגימות אנאיזוטרופיות אחרות

• ניתנת להחדרה בקלות בזווית של 45 מעלות לפולאריזר ולמנתח לפעולה נכונה

יישומים:
מדעי החומרים לניתוח סיבים, פולימרים ומבנים גבישיים
גיאולוגיה ומינרלוגיה לזיהוי מינרלים ומדידת דו-שבירות
בדיקת אלקטרוניקה ומוליכים למחצה לניתוח פני שטח מפורט
בקרת איכות ומחקר הכוללים טכניקות קיטוב מתקדמות

פלטה זו היא כלי חיוני לכל מי שמבצע מיקרוסקופיה של קיטוב מתקדם, ומספקת שליטה מדויקת על מצב הקיטוב של האור ותומכת בהדמיה בעלת ניגודיות גבוהה ומדויקת של מגוון רחב של דגימות דו-שבירות ומחזירות אור.