Nikon P2-CIA QL1X placa Lambda/4 (65463)

A placa Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 é um acessório de placa de onda-quarto projetado para uso com o Iluminador de Luz Incidente Coaxial P2-CIA da Nikon em microscópios estereoscópicos, como o SMZ25 e o SMZ18. Esta placa óptica é usada em microscopia de luz polarizada para melhorar o contraste e revelar detalhes finos em amostras birrefringentes ou reflexivas. Ao introduzir um deslocamento de fase preciso entre componentes ortogonais de luz polarizada, a placa permite técnicas avançadas de polarização, como observar cores de interferência e converter entre polarização linear e circular. É particularmente valiosa em ciência dos materiais, geologia, eletrônica e controle de qualidade, onde são necessárias análises detalhadas de superfícies e avaliação de propriedades ópticas.

Esta placa de onda-quarto (λ/4) introduz um deslocamento de fase de 90 graus entre os raios ordinário e extraordinário na luz polarizada, permitindo a conversão entre luz polarizada linearmente e circularmente.

Compatibilidade:
Projetada para uso com o Iluminador de Luz Incidente Coaxial Nikon P2-CIA, e compatível com microscópios estereoscópicos como o SMZ25 e o SMZ18, tipicamente ao usar objetivas de 1x.

Características Principais:

• Fornece retardamento preciso de um quarto de comprimento de onda (λ/4), geralmente otimizado para 550 nm (luz verde)

• Melhora a visibilidade das cores de interferência e permite a análise das diferenças de caminho óptico em materiais birrefringentes

• Permite tanto a avaliação qualitativa quanto quantitativa de propriedades ópticas, como retardamento e orientação

• Útil para eliminar bandas de extinção e melhorar a clareza da imagem no estudo de cristais, minerais, polímeros e outras amostras anisotrópicas

• Facilmente inserida em um ângulo de 45 graus em relação ao polarizador e analisador para funcionamento correto

Aplicações:
Ciência dos materiais para análise de fibras, polímeros e estruturas cristalinas
Geologia e mineralogia para identificação de minerais e medição de birrefringência
Inspeção de eletrônicos e semicondutores para análise detalhada de superfícies
Controle de qualidade e pesquisa envolvendo técnicas avançadas de polarização

Esta placa é uma ferramenta essencial para qualquer pessoa que realize microscopia de polarização avançada, proporcionando controle preciso sobre o estado de polarização da luz e suportando imagens de alto contraste e precisão de uma ampla gama de amostras birrefringentes e reflexivas.