Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 plaka (65463)

Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 plakası, SMZ25 ve SMZ18 gibi stereo mikroskoplarda Nikon’un P2-CIA Eş Eksenli Gelen Işık Aydınlatıcısı ile kullanılmak üzere tasarlanmış bir çeyrek dalga plakası aksesuarıdır. Bu optik plaka, polarize ışık mikroskobunda kontrastı artırmak ve çift kırıcı veya yansıtıcı örneklerde ince detayları ortaya çıkarmak için kullanılır. Polarize ışığın dik bileşenleri arasında hassas bir faz kayması oluşturarak, plaka, girişim renklerini gözlemleme ve doğrusal ile dairesel polarizasyon arasında dönüştürme gibi gelişmiş polarizasyon tekniklerini mümkün kılar. Malzeme bilimi, jeoloji, elektronik ve kalite kontrol gibi detaylı yüzey analizi ve optik özellik değerlendirmesinin gerekli olduğu alanlarda özellikle değerlidir.

Bu çeyrek dalga (λ/4) plakası, polarize ışıkta sıradan ve olağanüstü ışınlar arasında 90 derecelik bir faz kayması oluşturarak doğrusal ve dairesel polarize ışık arasında dönüşüm sağlar.

Uyumluluk:
Nikon P2-CIA Eş Eksenli Gelen Işık Aydınlatıcısı ile kullanım için tasarlanmıştır ve genellikle 1x objektifler kullanıldığında SMZ25 ve SMZ18 gibi stereo mikroskoplarla uyumludur.

Ana Özellikler:

• Genellikle 550 nm (yeşil ışık) için optimize edilmiş hassas çeyrek dalga (λ/4) gecikmesi sağlar

• Girişim renklerinin görünürlüğünü artırır ve çift kırıcı malzemelerde optik yol farklarının analizine olanak tanır

• Gecikme ve yönelim gibi optik özelliklerin hem nitel hem de nicel değerlendirmesini sağlar

• Kristaller, mineraller, polimerler ve diğer anizotropik örneklerin incelenmesinde yok olma bantlarını ortadan kaldırmak ve görüntü netliğini artırmak için kullanışlıdır

• Doğru işlev için polarizör ve analizöre 45 derecelik bir açıyla kolayca yerleştirilebilir

Uygulamalar:
Lifler, polimerler ve kristal yapıları analiz etmek için malzeme bilimi
Mineral tanımlama ve çift kırılma ölçümü için jeoloji ve mineraloji
Detaylı yüzey analizi için elektronik ve yarı iletken incelemesi
Gelişmiş polarizasyon tekniklerini içeren kalite kontrol ve araştırma

Bu plaka, gelişmiş polarizasyon mikroskopisi yapan herkes için vazgeçilmez bir araçtır, ışığın polarizasyon durumu üzerinde hassas kontrol sağlar ve geniş bir yelpazedeki çift kırıcı ve yansıtıcı örneklerin yüksek kontrastlı, doğru görüntülenmesini destekler.