Nikon P2-CIA QL1X пластина Лямбда/4 (65463)

Пластина Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 — это аксессуар четвертьволновой пластины, предназначенный для использования с коаксиальным осветителем падающего света Nikon P2-CIA на стереомикроскопах, таких как SMZ25 и SMZ18. Эта оптическая пластина используется в поляризационной микроскопии для улучшения контраста и выявления тонких деталей в двулучепреломляющих или отражающих образцах. Вводя точный фазовый сдвиг между ортогональными компонентами поляризованного света, пластина позволяет использовать передовые поляризационные техники, такие как наблюдение интерференционных цветов и преобразование между линейной и круговой поляризацией. Она особенно ценна в материаловедении, геологии, электронике и контроле качества, где требуется детальный анализ поверхности и оценка оптических свойств.

Эта четвертьволновая (λ/4) пластина вводит фазовый сдвиг на 90 градусов между обыкновенными и необыкновенными лучами в поляризованном свете, позволяя преобразование между линейно и кругово поляризованным светом.

Совместимость:
Разработана для использования с коаксиальным осветителем падающего света Nikon P2-CIA и совместима со стереомикроскопами, такими как SMZ25 и SMZ18, обычно при использовании объективов 1x.

Ключевые особенности:

• Обеспечивает точное четвертьволновое (λ/4) запаздывание, обычно оптимизированное для 550 нм (зеленый свет)

• Улучшает видимость интерференционных цветов и позволяет анализировать различия в оптическом пути в двулучепреломляющих материалах

• Позволяет как качественную, так и количественную оценку оптических свойств, таких как запаздывание и ориентация

• Полезна для устранения полос погашения и улучшения четкости изображения при изучении кристаллов, минералов, полимеров и других анизотропных образцов

• Легко вставляется под углом 45 градусов к поляризатору и анализатору для правильного функционирования

Применения:
Материаловедение для анализа волокон, полимеров и кристаллических структур
Геология и минералогия для идентификации минералов и измерения двулучепреломления
Электроника и инспекция полупроводников для детального анализа поверхности
Контроль качества и исследования, связанные с передовыми поляризационными техниками

Эта пластина является важным инструментом для всех, кто выполняет передовую поляризационную микроскопию, обеспечивая точный контроль над состоянием поляризации света и поддерживая высококонтрастное, точное изображение широкого спектра двулучепреломляющих и отражающих образцов.