Nikon P2-CIA QL1X пластина Lambda/4 (65463)

Пластина Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 є аксесуаром чвертьхвильової пластини, призначеним для використання з коаксіальним освітлювачем Nikon P2-CIA на стереомікроскопах, таких як SMZ25 і SMZ18. Ця оптична пластина використовується в поляризаційній мікроскопії для підвищення контрасту та виявлення дрібних деталей у двопроменезаломлюючих або відбивних зразках. Вводячи точний фазовий зсув між ортогональними компонентами поляризованого світла, пластина дозволяє використовувати передові поляризаційні техніки, такі як спостереження інтерференційних кольорів і перетворення між лінійною та круговою поляризацією. Вона особливо цінна в матеріалознавстві, геології, електроніці та контролі якості, де потрібен детальний аналіз поверхні та оцінка оптичних властивостей.

Ця чвертьхвильова (λ/4) пластина вводить фазовий зсув на 90 градусів між звичайними та незвичайними променями в поляризованому світлі, дозволяючи перетворення між лінійно та кругово поляризованим світлом.

Сумісність:
Розроблена для використання з коаксіальним освітлювачем Nikon P2-CIA, сумісна зі стереомікроскопами, такими як SMZ25 і SMZ18, зазвичай при використанні об'єктивів 1x.

Ключові особливості:

• Забезпечує точну чвертьхвильову (λ/4) ретардацію, зазвичай оптимізовану для 550 нм (зелене світло)

• Покращує видимість інтерференційних кольорів і дозволяє аналіз різниць оптичного шляху в двопроменезаломлюючих матеріалах

• Дозволяє як якісну, так і кількісну оцінку оптичних властивостей, таких як ретардація та орієнтація

• Корисна для усунення смуг згасання та покращення чіткості зображення при вивченні кристалів, мінералів, полімерів та інших анізотропних зразків

• Легко вставляється під кутом 45 градусів до поляризатора та аналізатора для правильної роботи

Застосування:
Матеріалознавство для аналізу волокон, полімерів і кристалічних структур
Геологія та мінералогія для ідентифікації мінералів і вимірювання двопроменезаломлення
Інспекція електроніки та напівпровідників для детального аналізу поверхні
Контроль якості та дослідження з використанням передових поляризаційних технік

Ця пластина є важливим інструментом для всіх, хто виконує передову поляризаційну мікроскопію, забезпечуючи точний контроль над станом поляризації світла та підтримуючи висококонтрастне, точне зображення широкого спектра двопроменезаломлюючих і відбивних зразків.