Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 plaat (65464)

De Nikon P2-CIA QL0.5X Lambda/4 plaat is een kwartgolfplaat accessoire dat specifiek is ontworpen voor gebruik met Nikon's P2-CIA Coaxial Epi Illuminator en compatibele stereomicroscopen, zoals de SMZ25 en SMZ18. Deze optische plaat wordt gebruikt in gepolariseerde lichtmicroscopie om het contrast te verbeteren en gedetailleerde kenmerken in dubbelbrekende of reflecterende monsters te onthullen. Door een precieze faseverschuiving tussen orthogonale lichtgolven te introduceren, maakt de plaat geavanceerde polarisatietechnieken mogelijk, zoals de observatie van interferentiekleuren en de conversie tussen lineair en circulair gepolariseerd licht. Dit maakt het een waardevol hulpmiddel voor toepassingen in materiaalkunde, geologie, elektronica en kwaliteitscontrole, waar gedetailleerde analyse van oppervlakte-structuur en optische eigenschappen vereist is.

Deze kwartgolf (λ/4) plaat wordt gebruikt om een faseverschuiving van 90 graden te introduceren tussen de gewone en buitengewone componenten van gepolariseerd licht, waardoor lineair gepolariseerd licht wordt omgezet in circulair of elliptisch gepolariseerd licht, en omgekeerd.

Compatibiliteit:
Ontworpen voor gebruik met de Nikon P2-CIA Coaxial Epi Illuminator, en geschikt voor stereomicroscopen zoals de SMZ25 en SMZ18 bij gebruik van 0.5x of 1x objectieven.

Belangrijkste Kenmerken:

• Biedt een precieze kwartgolf (λ/4) vertraging, typisch bij 550 nm (groen licht), voor optimale prestaties in gepolariseerde lichttoepassingen

• Verbetert het vermogen om interferentiekleuren te observeren en optische padverschillen in dubbelbrekende specimens te analyseren

• Maakt kwalitatieve en kwantitatieve beoordeling van optische eigenschappen mogelijk, zoals vertraging en oriëntatie, in materialen

• Kan worden gebruikt om extinctiebanden te elimineren en de beeldhelderheid te verbeteren bij het analyseren van kristallen, mineralen, polymeren en andere anisotrope materialen

• Eenvoudig in te voegen onder een hoek van 45 graden ten opzichte van de polarizer en analyzer voor correcte werking

Toepassingen:
Materiaalkunde voor het analyseren van polymeren, vezels en kristallijne structuren
Geologie en mineralogie voor mineraalidentificatie en dubbelbrekingsmeting
Elektronica en halfgeleiderinspectie voor oppervlakte-structuuranalyse
Kwaliteitscontrole en onderzoek dat geavanceerde polarisatietechnieken vereist

Deze plaat is een essentieel accessoire voor iedereen die geavanceerde polarisatiemicroscopie uitvoert, en biedt precieze controle over de polarisatietoestand van licht en maakt nauwkeurige, hoog-contrast beeldvorming van een breed scala aan dubbelbrekende en reflecterende monsters mogelijk.