Naše společnost se podílí na přípravě oficiálních povolení od polského ministerstva rozvoje a technologií, která nám umožňují vyvážet všechny drony dvojího použití, optiku a přenosné radiotelefony bez DPH na polské straně / a bez DPH na ukrajinské straně.
Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 deska (65463)
Deska Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 je příslušenství čtvrtvlnné desky navržené pro použití s koaxiálním osvětlovačem dopadajícího světla Nikon P2-CIA na stereomikroskopech, jako jsou SMZ25 a SMZ18. Tato optická deska se používá v mikroskopii s polarizovaným světlem ke zvýšení kontrastu a odhalení jemných detailů v dvojlomných nebo reflexních vzorcích. Zavedením přesného fázového posunu mezi ortogonálními složkami polarizovaného světla deska umožňuje pokročilé polarizační techniky, jako je pozorování interferenčních barev a převod mezi lineární a kruhovou polarizací.
1359.44 $ čistá cena (non-EU countries)
Anatolij Livaševskij
Produktový manažer
/ 
+48721808900
+48721808900
+48721808900
[email protected]
Popis
Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 deska je příslušenství čtvrtvlnné desky navržené pro použití s Nikonovým P2-CIA koaxiálním osvětlovačem pro stereo mikroskopy, jako jsou SMZ25 a SMZ18. Tato optická deska se používá v polarizované světelné mikroskopii ke zvýšení kontrastu a odhalení jemných detailů v dvojlomných nebo reflexních vzorcích. Zavedením přesného fázového posunu mezi ortogonálními složkami polarizovaného světla umožňuje deska pokročilé polarizační techniky, jako je pozorování interferenčních barev a převod mezi lineární a kruhovou polarizací. Je obzvláště cenná v materiálové vědě, geologii, elektronice a kontrole kvality, kde je vyžadována podrobná analýza povrchu a hodnocení optických vlastností.
Tato čtvrtvlnná (λ/4) deska zavádí 90stupňový fázový posun mezi obyčejnými a mimořádnými paprsky v polarizovaném světle, což umožňuje převod mezi lineárně a kruhově polarizovaným světlem.
Kompatibilita:
Navrženo pro použití s Nikonovým P2-CIA koaxiálním osvětlovačem a kompatibilní se stereo mikroskopy jako SMZ25 a SMZ18, obvykle při použití 1x objektivů.
Klíčové vlastnosti:
-
Poskytuje přesné čtvrtvlnné (λ/4) zpoždění, obvykle optimalizované pro 550 nm (zelené světlo)
-
Zvyšuje viditelnost interferenčních barev a umožňuje analýzu rozdílů v optické dráze v dvojlomných materiálech
-
Umožňuje jak kvalitativní, tak kvantitativní hodnocení optických vlastností, jako je zpoždění a orientace
-
Užitečné pro eliminaci zánikových pásů a zlepšení jasnosti obrazu při studiu krystalů, minerálů, polymerů a dalších anizotropních vzorků
-
Snadno vložitelné pod úhlem 45 stupňů k polarizátoru a analyzátoru pro správnou funkci
Aplikace:
Materiálová věda pro analýzu vláken, polymerů a krystalických struktur
Geologie a mineralogie pro identifikaci minerálů a měření dvojlomu
Elektronika a inspekce polovodičů pro podrobnou analýzu povrchu
Kontrola kvality a výzkum zahrnující pokročilé polarizační techniky
Tato deska je nezbytným nástrojem pro každého, kdo provádí pokročilou polarizační mikroskopii, poskytuje přesnou kontrolu nad polarizačním stavem světla a podporuje vysoce kontrastní, přesné zobrazování široké škály dvojlomných a reflexních vzorků.
Parametry
Oficiální povolení ministerstva rozvoje a technologie
Naše společnost se podílí na přípravě oficiálních povolení od polského ministerstva rozvoje a technologií, která nám umožňují vyvážet všechny drony dvojího použití, optiku a přenosné radiotelefony bez DPH na polské straně / a bez DPH na ukrajinské straně.