Nikon P2-CIA koaxialer Auflichtbeleuchter (65462)

Der Nikon P2-CIA Koaxial-Einfallslicht-Illuminator ist ein Zubehör, das für den Einsatz mit Nikon-Stereomikroskopen mit paralleler Optik, wie den Modellen SMZ25 und SMZ18, entwickelt wurde. Dieser Illuminator bietet koaxiale episkopische Beleuchtung, was bedeutet, dass er Licht durch das Objektiv entlang des gleichen Pfades wie die Beobachtungsoptik lenkt. Diese Anordnung ist besonders effektiv zur Untersuchung der Oberflächendetails von undurchsichtigen oder reflektierenden Proben und liefert schattenfreie, kontrastreiche Bilder. Er wird häufig in der Materialwissenschaft, Elektronik, Metallurgie und Qualitätskontrolle eingesetzt, wo eine präzise Oberflächeninspektion erforderlich ist.

Bietet koaxiale episkopische Beleuchtung, indem Licht durch das Objektiv direkt auf die Probe geleitet wird, was eine klare Beobachtung feiner Oberflächenmerkmale auf undurchsichtigen oder reflektierenden Proben ermöglicht.

Kompatibilität:
Entwickelt für den Einsatz mit Nikon SMZ25 und SMZ18 Stereomikroskopen und anderen kompatiblen Modellen mit paralleler Optik.

Hauptmerkmale:

• Bietet gleichmäßige, hochintensive Beleuchtung über das gesamte Sichtfeld

• Ermöglicht schattenfreie Bildgebung von polierten, metallischen oder dicken Proben

• Erlaubt detaillierte Beobachtung von Mikrostrukturen, Defekten und Oberflächenmerkmalen

• Kann mit anderen Beleuchtungssystemen, wie faseroptischen oder Ringlichtern, für vielseitige Bildgebung kombiniert werden

• Wird oft mit einer 1/4λ-Platte für verbesserte Polarisation und Kontrast verwendet

Anwendungen:
Materialwissenschaft und Metallurgie zur Untersuchung von polierten Schnitten und Metalloberflächen
Elektronik- und Halbleiterinspektion zur Erkennung von Mikrostrukturen und Defekten
Qualitätskontrolle und Fehleranalyse in industriellen Umgebungen
Geologie und Mineralogie zur Analyse von undurchsichtigen Mineralien und Kristallen

Dieser Illuminator ist ein unverzichtbares Werkzeug für jeden, der präzise, schattenfreie Bildgebung von reflektierenden oder undurchsichtigen Proben benötigt und unterstützt sowohl Routineinspektionen als auch fortgeschrittene Forschung in wissenschaftlichen und industriellen Umgebungen.