Nikon P2-CIA współosiowy iluminator światła padającego (65462)

Nikon P2-CIA Coaxial Incident Light Illuminator to akcesorium zaprojektowane do użycia z mikroskopami stereoskopowymi Nikon typu optyki równoległej, takimi jak modele SMZ25 i SMZ18. Ten iluminator zapewnia współosiowe oświetlenie episkopowe, co oznacza, że kieruje światło przez obiektyw wzdłuż tej samej ścieżki co optyka obserwacyjna. To ustawienie jest szczególnie skuteczne do badania szczegółów powierzchni nieprzezroczystych lub refleksyjnych próbek, dostarczając obrazy bez cieni i o wysokim kontraście. Jest szeroko stosowany w naukach o materiałach, elektronice, metalurgii i aplikacjach kontroli jakości, gdzie wymagana jest precyzyjna inspekcja powierzchni.

Zapewnia współosiowe oświetlenie episkopowe, kierując światło przez obiektyw bezpośrednio na próbkę, co pozwala na wyraźną obserwację drobnych cech powierzchniowych na nieprzezroczystych lub refleksyjnych próbkach.

Kompatybilność:
Zaprojektowany do użycia z mikroskopami stereoskopowymi Nikon SMZ25 i SMZ18 oraz innymi kompatybilnymi modelami typu optyki równoległej.

Kluczowe cechy:

• Zapewnia jednolite, wysokiej intensywności oświetlenie w całym polu widzenia

• Umożliwia obrazowanie bez cieni wypolerowanych, metalicznych lub grubych próbek

• Pozwala na szczegółową obserwację mikrostruktur, defektów i cech powierzchniowych

• Może być łączony z innymi systemami oświetleniowymi, takimi jak światła światłowodowe lub pierścieniowe, dla wszechstronnego obrazowania

• Często używany z płytką 1/4λ dla zwiększonej polaryzacji i kontrastu

Zastosowania:
Nauki o materiałach i metalurgia do badania wypolerowanych przekrojów i powierzchni metalowych
Inspekcja elektroniki i półprzewodników do wykrywania mikrostruktur i defektów
Kontrola jakości i analiza awarii w środowiskach przemysłowych
Geologia i mineralogia do analizy nieprzezroczystych minerałów i kryształów

Ten iluminator jest niezbędnym narzędziem dla każdego, kto potrzebuje precyzyjnego, bezcieniowego obrazowania refleksyjnych lub nieprzezroczystych próbek, wspierając zarówno rutynowe inspekcje, jak i zaawansowane badania w środowiskach naukowych i przemysłowych.