Nikon P2-CIA koaksiālais incidentās gaismas apgaismotājs (65462)

Nikon P2-CIA Koaksiālais incidentās gaismas apgaismotājs ir piederums, kas paredzēts lietošanai ar Nikon paralēlo optikas tipa stereo mikroskopiem, piemēram, SMZ25 un SMZ18 modeļiem. Šis apgaismotājs nodrošina koaksiālu episkopisku apgaismojumu, kas nozīmē, ka tas novirza gaismu caur objektīvu pa to pašu ceļu kā novērošanas optika. Šī uzstādīšana ir īpaši efektīva, lai pārbaudītu necaurspīdīgu vai atstarojošu paraugu virsmas detaļas, nodrošinot ēnu brīvus, augsta kontrasta attēlus. Tas tiek plaši izmantots materiālzinātnē, elektronikā, metalurģijā un kvalitātes kontroles lietojumos, kur nepieciešama precīza virsmas pārbaude.

Nodrošina koaksiālu episkopisku apgaismojumu, novirzot gaismu caur objektīvu tieši uz paraugu, ļaujot skaidri novērot smalkas virsmas īpašības necaurspīdīgos vai atstarojošos paraugos.

Saderība:
Paredzēts lietošanai ar Nikon SMZ25 un SMZ18 stereo mikroskopiem un citiem saderīgiem paralēlo optikas tipa modeļiem.

Galvenās iezīmes:

• Nodrošina vienmērīgu, augstas intensitātes apgaismojumu visā redzes laukā

• Ļauj veidot ēnu brīvus attēlus no pulētiem, metāliskiem vai bieziem paraugiem

• Ļauj detalizēti novērot mikrostruktūras, defektus un virsmas īpašības

• Var kombinēt ar citām apgaismojuma sistēmām, piemēram, šķiedru optiku vai gredzenu gaismām, lai nodrošinātu daudzveidīgu attēlveidošanu

• Bieži tiek izmantots ar 1/4λ plāksni, lai uzlabotu polarizāciju un kontrastu

Lietojumi:
Materiālzinātne un metalurģija, lai pārbaudītu pulētas sekcijas un metāla virsmas
Elektronikas un pusvadītāju pārbaude, lai atklātu mikrostruktūras un defektus
Kvalitātes kontrole un kļūdu analīze rūpnieciskajā vidē
Ģeoloģija un mineraloģija, lai analizētu necaurspīdīgus minerālus un kristālus

Šis apgaismotājs ir būtisks rīks ikvienam, kam nepieciešama precīza, ēnu brīva atstarojošu vai necaurspīdīgu paraugu attēlveidošana, atbalstot gan ikdienas pārbaudes, gan uzlabotus pētījumus zinātniskajā un rūpnieciskajā vidē.