Nikon P2-CIA koaksialt indfaldende lysbelysning (65462)

Nikon P2-CIA Coaxial Incident Light Illuminator er et tilbehør designet til brug med Nikon paralleloptik-type stereomikroskoper, såsom SMZ25 og SMZ18 modellerne. Denne illuminator giver koaksial episkopisk belysning, hvilket betyder, at den leder lys gennem objektivlinsen langs samme vej som observationsoptikken. Denne opsætning er særligt effektiv til at undersøge overfladedetaljer på uigennemsigtige eller reflekterende prøver, hvilket giver skyggefri, højkontrastbilleder. Den anvendes bredt inden for materialvidenskab, elektronik, metallurgi og kvalitetskontrolapplikationer, hvor præcis overfladeinspektion er påkrævet.

Leverer koaksial episkopisk belysning ved at kanalisere lys gennem objektivlinsen direkte på prøven, hvilket muliggør klar observation af fine overfladefunktioner på uigennemsigtige eller reflekterende prøver.

Kompatibilitet:
Designet til brug med Nikon SMZ25 og SMZ18 stereomikroskoper og andre kompatible paralleloptik-typer.

Nøglefunktioner:

• Giver ensartet, højintensitetsbelysning over synsfeltet

• Muliggør skyggefri billeddannelse af polerede, metalliske eller tykke prøver

• Tillader detaljeret observation af mikrostrukturer, defekter og overfladekarakteristika

• Kan kombineres med andre belysningssystemer, såsom fiberoptik eller ringlys, for alsidig billeddannelse

• Bruges ofte med en 1/4λ plade for forbedret polarisering og kontrast

Anvendelser:
Materialvidenskab og metallurgi til undersøgelse af polerede sektioner og metaloverflader
Elektronik og halvlederinspektion til at opdage mikrostrukturer og defekter
Kvalitetskontrol og fejlanalyse i industrielle miljøer
Geologi og mineralogi til analyse af uigennemsigtige mineraler og krystaller

Denne illuminator er et essentielt værktøj for enhver, der har brug for præcis, skyggefri billeddannelse af reflekterende eller uigennemsigtige prøver, og understøtter både rutineinspektioner og avanceret forskning i videnskabelige og industrielle miljøer.