Освітлювач коаксіального відбитого світла Nikon P2-CIA (65462)

Коаксіальний освітлювач інцидентного світла Nikon P2-CIA є аксесуаром, призначеним для використання з стереомікроскопами Nikon з паралельною оптикою, такими як моделі SMZ25 і SMZ18. Цей освітлювач забезпечує коаксіальне епіскопічне освітлення, тобто направляє світло через об'єктив уздовж того ж шляху, що й оптична система спостереження. Така установка особливо ефективна для вивчення поверхневих деталей непрозорих або відбиваючих зразків, забезпечуючи зображення без тіней з високим контрастом. Він широко використовується в матеріалознавстві, електроніці, металургії та контролі якості, де потрібна точна перевірка поверхні.

Забезпечує коаксіальне епіскопічне освітлення, направляючи світло через об'єктив безпосередньо на зразок, що дозволяє чітко спостерігати тонкі поверхневі особливості на непрозорих або відбиваючих зразках.

Сумісність:
Розроблений для використання з стереомікроскопами Nikon SMZ25 і SMZ18 та іншими сумісними моделями з паралельною оптикою.

Ключові особливості:

• Забезпечує рівномірне, високої інтенсивності освітлення по всьому полю зору

• Дозволяє отримувати зображення без тіней полірованих, металевих або товстих зразків

• Дозволяє детально спостерігати мікроструктури, дефекти та поверхневі характеристики

• Може бути поєднаний з іншими системами освітлення, такими як волоконно-оптичні або кільцеві світильники, для універсальної візуалізації

• Часто використовується з 1/4λ пластиною для покращеної поляризації та контрасту

Застосування:
Матеріалознавство та металургія для вивчення полірованих секцій та металевих поверхонь
Інспекція електроніки та напівпровідників для виявлення мікроструктур та дефектів
Контроль якості та аналіз відмов у промислових умовах
Геологія та мінералогія для аналізу непрозорих мінералів та кристалів

Цей освітлювач є важливим інструментом для всіх, хто потребує точного, безтіньового зображення відбиваючих або непрозорих зразків, підтримуючи як рутинні інспекції, так і передові дослідження в наукових та промислових умовах.