Nikon P2-CIA koaksialinis incidentinės šviesos apšvietėjas (65462)

Nikon P2-CIA koaksialinis incidentinis šviesos apšvietėjas yra priedas, skirtas naudoti su Nikon lygiagrečių optikų tipo stereo mikroskopais, tokiais kaip SMZ25 ir SMZ18 modeliai. Šis apšvietėjas suteikia koaksialinį episkopinį apšvietimą, tai reiškia, kad jis nukreipia šviesą per objektyvą tuo pačiu keliu kaip ir stebėjimo optika. Ši sistema ypač efektyvi tiriant nepermatomų ar atspindinčių mėginių paviršiaus detales, suteikiant šešėlių neturinčius, aukšto kontrasto vaizdus. Jis plačiai naudojamas medžiagų moksle, elektronikoje, metalurgijoje ir kokybės kontrolės taikymuose, kur reikalingas tikslus paviršiaus patikrinimas.

Suteikia koaksialinį episkopinį apšvietimą, nukreipdamas šviesą per objektyvą tiesiai ant mėginio, leidžiant aiškiai stebėti smulkias paviršiaus savybes nepermatomuose ar atspindinčiuose pavyzdžiuose.

Suderinamumas:
Sukurtas naudoti su Nikon SMZ25 ir SMZ18 stereo mikroskopais ir kitais suderinamais lygiagrečių optikų tipo modeliais.

Pagrindinės savybės:

• Suteikia vienodą, didelio intensyvumo apšvietimą visame matymo lauke

• Leidžia šešėlių neturinčius poliruotų, metalinių ar storų mėginių vaizdus

• Leidžia detaliai stebėti mikrostruktūras, defektus ir paviršiaus savybes

• Gali būti derinamas su kitomis apšvietimo sistemomis, tokiomis kaip optinio pluošto ar žiediniai šviestuvai, siekiant universalaus vaizdavimo

• Dažnai naudojamas su 1/4λ plokšte, siekiant pagerinti poliarizaciją ir kontrastą

Taikymo sritys:
Medžiagų mokslas ir metalurgija poliruotų sekcijų ir metalinių paviršių tyrimui
Elektronikos ir puslaidininkių patikra mikrostruktūrų ir defektų aptikimui
Kokybės kontrolė ir gedimų analizė pramoninėje aplinkoje
Geologija ir mineralogija nepermatomų mineralų ir kristalų analizei

Šis apšvietėjas yra esminis įrankis visiems, kuriems reikia tikslaus, šešėlių neturinčio atspindinčių ar nepermatomų mėginių vaizdavimo, palaikantis tiek įprastus patikrinimus, tiek pažangius mokslinius ir pramoninius tyrimus.