Nikon P2-CIA QL1X Placă Lambda/4 (65463)

Placa Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 este un accesoriu de placă de un sfert de undă proiectat pentru utilizare cu Iluminatorul Coaxial de Lumină Incidentă P2-CIA de la Nikon pe microscoape stereo precum SMZ25 și SMZ18. Această placă optică este utilizată în microscopie cu lumină polarizată pentru a îmbunătăți contrastul și a dezvălui detalii fine în specimene birefringente sau reflectante. Prin introducerea unei schimbări de fază precise între componentele ortogonale ale luminii polarizate, placa permite tehnici avansate de polarizare, cum ar fi observarea culorilor de interferență și conversia între polarizarea liniară și circulară. Este deosebit de valoroasă în știința materialelor, geologie, electronică și controlul calității, unde sunt necesare analize detaliate ale suprafeței și evaluarea proprietăților optice.

Această placă de un sfert de undă (λ/4) introduce o schimbare de fază de 90 de grade între razele ordinare și extraordinare în lumina polarizată, permițând conversia între lumina polarizată liniar și circular.

Compatibilitate:
Proiectată pentru utilizare cu Iluminatorul Coaxial de Lumină Incidentă Nikon P2-CIA și compatibilă cu microscoape stereo precum SMZ25 și SMZ18, de obicei atunci când se utilizează obiective de 1x.

Caracteristici cheie:

• Oferă o întârziere precisă de un sfert de lungime de undă (λ/4), de obicei optimizată pentru 550 nm (lumină verde)

• Îmbunătățește vizibilitatea culorilor de interferență și permite analiza diferențelor de cale optică în materiale birefringente

• Permite evaluarea atât calitativă, cât și cantitativă a proprietăților optice, cum ar fi întârzierea și orientarea

• Utilă pentru eliminarea benzilor de extincție și îmbunătățirea clarității imaginii în studiul cristalelor, mineralelor, polimerilor și altor probe anizotrope

• Se introduce ușor la un unghi de 45 de grade față de polarizator și analizor pentru funcționare corectă

Aplicații:
Știința materialelor pentru analiza fibrelor, polimerilor și structurilor cristaline
Geologie și mineralogie pentru identificarea mineralelor și măsurarea birefringenței
Inspecția electronicelor și semiconductorilor pentru analiza detaliată a suprafeței
Controlul calității și cercetare implicând tehnici avansate de polarizare

Această placă este un instrument esențial pentru oricine efectuează microscopie avansată de polarizare, oferind control precis asupra stării de polarizare a luminii și susținând imagistica de înalt contrast și precisă a unei game largi de probe birefringente și reflectante.