Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 плоча (65463)

Пластината Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 е аксесоар за четвърт вълна, предназначен за използване с коаксиалния осветител за инцидентна светлина на Nikon P2-CIA върху стереомикроскопи като SMZ25 и SMZ18. Тази оптична пластина се използва в поляризирана светлинна микроскопия за подобряване на контраста и разкриване на фини детайли в двулъчепречупващи или отразяващи образци. Чрез въвеждане на прецизно фазово изместване между ортогоналните компоненти на поляризираната светлина, пластината позволява напреднали поляризационни техники, като наблюдение на интерференционни цветове и преобразуване между линейна и кръгова поляризация. Тя е особено ценна в материалознанието, геологията, електрониката и контрола на качеството, където се изисква детайлен анализ на повърхността и оценка на оптичните свойства.

Тази пластина за четвърт вълна (λ/4) въвежда 90-градусово фазово изместване между обикновените и необикновените лъчи в поляризираната светлина, позволявайки преобразуване между линейно и кръгово поляризирана светлина.

Съвместимост:
Проектирана за използване с коаксиалния осветител за инцидентна светлина на Nikon P2-CIA и съвместима със стереомикроскопи като SMZ25 и SMZ18, обикновено при използване на 1x обективи.

Ключови характеристики:

• Осигурява прецизно забавяне на четвърт вълна (λ/4), обикновено оптимизирано за 550 nm (зелена светлина)

• Подобрява видимостта на интерференционните цветове и позволява анализ на оптичните пътни разлики в двулъчепречупващи материали

• Позволява както качествена, така и количествена оценка на оптични свойства като забавяне и ориентация

• Полезна за елиминиране на ленти на изчезване и подобряване на яснотата на изображението при изучаване на кристали, минерали, полимери и други анизотропни образци

• Лесно се вмъква под ъгъл от 45 градуса към поляризатора и анализатора за правилна функция

Приложения:
Материалознание за анализ на влакна, полимери и кристални структури
Геология и минералогия за идентификация на минерали и измерване на двулъчепречупване
Електроника и инспекция на полупроводници за детайлен анализ на повърхността
Контрол на качеството и изследвания, включващи напреднали поляризационни техники

Тази пластина е основен инструмент за всеки, който извършва напреднала поляризационна микроскопия, осигурявайки прецизен контрол върху поляризационното състояние на светлината и поддържайки висококонтрастно, точно изображение на широк спектър от двулъчепречупващи и отразяващи образци.