Nikon P2-CIA iluminador coaxial de luz incidente (65462)

El Iluminador de Luz Incidente Coaxial Nikon P2-CIA es un accesorio diseñado para su uso con microscopios estereoscópicos de tipo óptica paralela de Nikon, como los modelos SMZ25 y SMZ18. Este iluminador proporciona iluminación episcópica coaxial, lo que significa que dirige la luz a través del objetivo a lo largo del mismo camino que las ópticas de observación. Esta configuración es especialmente efectiva para examinar los detalles de la superficie de muestras opacas o reflectantes, ofreciendo imágenes sin sombras y de alto contraste. Se utiliza ampliamente en aplicaciones de ciencia de materiales, electrónica, metalurgia y control de calidad donde se requiere una inspección precisa de la superficie.

Proporciona iluminación episcópica coaxial canalizando la luz a través del objetivo directamente sobre la muestra, permitiendo una observación clara de características finas de la superficie en especímenes opacos o reflectantes.

Compatibilidad:
Diseñado para su uso con microscopios estereoscópicos Nikon SMZ25 y SMZ18 y otros modelos compatibles de tipo óptica paralela.

Características Clave:

• Proporciona una iluminación uniforme y de alta intensidad a través del campo de visión

• Permite la obtención de imágenes sin sombras de muestras pulidas, metálicas o gruesas

• Permite la observación detallada de microestructuras, defectos y características de la superficie

• Puede combinarse con otros sistemas de iluminación, como luces de fibra óptica o anulares, para una imagen versátil

• A menudo se utiliza con una placa de 1/4λ para mejorar la polarización y el contraste

Aplicaciones:
Ciencia de materiales y metalurgia para examinar secciones pulidas y superficies metálicas
Inspección de electrónica y semiconductores para detectar microestructuras y defectos
Control de calidad y análisis de fallos en entornos industriales
Geología y mineralogía para analizar minerales y cristales opacos

Este iluminador es una herramienta esencial para cualquiera que necesite imágenes precisas y sin sombras de muestras reflectantes u opacas, apoyando tanto inspecciones rutinarias como investigaciones avanzadas en entornos científicos e industriales.