Nikon P2-CIA QL1X plaque Lambda/4 (65463)

La plaque Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 est un accessoire de quart d'onde conçu pour être utilisé avec l'illuminateur coaxial à lumière incidente P2-CIA de Nikon sur des stéréomicroscopes tels que les SMZ25 et SMZ18. Cette plaque optique est utilisée en microscopie à lumière polarisée pour améliorer le contraste et révéler des détails fins dans les échantillons biréfringents ou réfléchissants. En introduisant un déphasage précis entre les composants orthogonaux de la lumière polarisée, la plaque permet des techniques de polarisation avancées, telles que l'observation des couleurs d'interférence et la conversion entre la polarisation linéaire et circulaire. Elle est particulièrement précieuse en science des matériaux, géologie, électronique et contrôle qualité, où une analyse de surface détaillée et une évaluation des propriétés optiques sont nécessaires.

Cette plaque de quart d'onde (λ/4) introduit un déphasage de 90 degrés entre les rayons ordinaires et extraordinaires dans la lumière polarisée, permettant la conversion entre la lumière polarisée linéairement et circulairement.

Compatibilité :
Conçue pour être utilisée avec l'illuminateur coaxial à lumière incidente Nikon P2-CIA, et compatible avec des stéréomicroscopes comme les SMZ25 et SMZ18, généralement lors de l'utilisation d'objectifs 1x.

Caractéristiques principales :

• Fournit un retard de quart d'onde (λ/4) précis, généralement optimisé pour 550 nm (lumière verte)

• Améliore la visibilité des couleurs d'interférence et permet l'analyse des différences de chemin optique dans les matériaux biréfringents

• Permet une évaluation qualitative et quantitative des propriétés optiques telles que le retard et l'orientation

• Utile pour éliminer les bandes d'extinction et améliorer la clarté de l'image dans l'étude des cristaux, minéraux, polymères et autres échantillons anisotropes

• Facilement insérée à un angle de 45 degrés par rapport au polariseur et à l'analyseur pour un fonctionnement correct

Applications :
Science des matériaux pour l'analyse des fibres, polymères et structures cristallines
Géologie et minéralogie pour l'identification des minéraux et la mesure de la biréfringence
Inspection électronique et des semi-conducteurs pour une analyse de surface détaillée
Contrôle qualité et recherche impliquant des techniques de polarisation avancées

Cette plaque est un outil essentiel pour quiconque effectue de la microscopie de polarisation avancée, offrant un contrôle précis de l'état de polarisation de la lumière et soutenant une imagerie à haut contraste et précise d'une large gamme d'échantillons biréfringents et réfléchissants.