Nikon P2-CIA QL1X piastra Lambda/4 (65463)

La piastra Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 è un accessorio a quarto d'onda progettato per l'uso con l'illuminatore coassiale a luce incidente P2-CIA di Nikon su microscopi stereo come l'SMZ25 e l'SMZ18. Questa piastra ottica è utilizzata nella microscopia a luce polarizzata per migliorare il contrasto e rivelare dettagli fini in campioni birifrangenti o riflettenti. Introducendo uno spostamento di fase preciso tra componenti ortogonali della luce polarizzata, la piastra consente tecniche di polarizzazione avanzate, come l'osservazione dei colori di interferenza e la conversione tra polarizzazione lineare e circolare. È particolarmente preziosa nelle scienze dei materiali, geologia, elettronica e controllo qualità, dove è richiesta un'analisi dettagliata delle superfici e una valutazione delle proprietà ottiche.

Questa piastra a quarto d'onda (λ/4) introduce uno spostamento di fase di 90 gradi tra i raggi ordinari e straordinari nella luce polarizzata, consentendo la conversione tra luce polarizzata linearmente e circolarmente.

Compatibilità:
Progettata per l'uso con l'illuminatore coassiale a luce incidente Nikon P2-CIA, e compatibile con microscopi stereo come l'SMZ25 e l'SMZ18, tipicamente quando si utilizzano obiettivi 1x.

Caratteristiche principali:

• Fornisce una ritardazione precisa a quarto d'onda (λ/4), solitamente ottimizzata per 550 nm (luce verde)

• Migliora la visibilità dei colori di interferenza e consente l'analisi delle differenze di percorso ottico in materiali birifrangenti

• Consente sia la valutazione qualitativa che quantitativa delle proprietà ottiche come ritardazione e orientamento

• Utile per eliminare le bande di estinzione e migliorare la chiarezza dell'immagine nello studio di cristalli, minerali, polimeri e altri campioni anisotropi

• Facilmente inseribile ad un angolo di 45 gradi rispetto al polarizzatore e all'analizzatore per un corretto funzionamento

Applicazioni:
Scienza dei materiali per l'analisi di fibre, polimeri e strutture cristalline
Geologia e mineralogia per l'identificazione dei minerali e la misurazione della birifrangenza
Ispezione elettronica e dei semiconduttori per un'analisi dettagliata delle superfici
Controllo qualità e ricerca che coinvolgono tecniche di polarizzazione avanzate

Questa piastra è uno strumento essenziale per chiunque esegua microscopia a polarizzazione avanzata, fornendo un controllo preciso sullo stato di polarizzazione della luce e supportando un'immagine ad alto contrasto e accurata di una vasta gamma di campioni birifrangenti e riflettenti.