Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 plokštelė (65463)

Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 plokštelė yra ketvirčio bangos plokštelės priedas, skirtas naudoti su Nikon P2-CIA koaksialiniu incidentiniu šviesos apšvietimu stereomikroskopuose, tokiuose kaip SMZ25 ir SMZ18. Ši optinė plokštelė naudojama poliarizuotos šviesos mikroskopijoje, siekiant padidinti kontrastą ir atskleisti smulkias detales dvikrypčiuose arba atspindinčiuose mėginiuose. Įvedant tikslų fazės poslinkį tarp ortogonalių poliarizuotos šviesos komponentų, plokštelė leidžia naudoti pažangias poliarizacijos technikas, tokias kaip interferencinių spalvų stebėjimas ir perėjimas tarp linijinės ir apskritiminės poliarizacijos. Tai ypač vertinga medžiagų moksle, geologijoje, elektronikoje ir kokybės kontrolėje, kur reikalinga detali paviršiaus analizė ir optinių savybių vertinimas.

Ši ketvirčio bangos (λ/4) plokštelė įveda 90 laipsnių fazės poslinkį tarp įprastų ir neįprastų spindulių poliarizuotoje šviesoje, leidžiant perėjimą tarp linijinės ir apskritiminės poliarizacijos.

Suderinamumas:
Sukurta naudoti su Nikon P2-CIA koaksialiniu incidentiniu šviesos apšvietimu ir suderinama su stereomikroskopais, tokiais kaip SMZ25 ir SMZ18, paprastai naudojant 1x objektyvus.

Pagrindinės savybės:

• Suteikia tikslų ketvirčio bangos ilgio (λ/4) vėlavimą, paprastai optimizuotą 550 nm (žaliai šviesai)

• Pagerina interferencinių spalvų matomumą ir leidžia analizuoti optinio kelio skirtumus dvikrypčiuose medžiagose

• Leidžia tiek kokybinį, tiek kiekybinį optinių savybių, tokių kaip vėlavimas ir orientacija, vertinimą

• Naudinga pašalinant išnykimo juostas ir gerinant vaizdo aiškumą tiriant kristalus, mineralus, polimerus ir kitus anizotropinius mėginius

• Lengvai įstatoma 45 laipsnių kampu į poliarizatorių ir analizatorių, kad veiktų tinkamai

Panaudojimas:
Medžiagų mokslas pluoštų, polimerų ir kristalinių struktūrų analizei
Geologija ir mineralogija mineralų identifikavimui ir dvikrypčio matavimui
Elektronikos ir puslaidininkių inspekcija detaliai paviršiaus analizei
Kokybės kontrolė ir tyrimai, susiję su pažangiomis poliarizacijos technikomis

Ši plokštelė yra esminis įrankis visiems, atliekantiems pažangią poliarizacijos mikroskopiją, suteikiant tikslų šviesos poliarizacijos būsenos valdymą ir palaikant aukšto kontrasto, tikslius vaizdus iš įvairių dvikrypčių ir atspindinčių mėginių.