Nikon P2-CIA QL1X płytka Lambda/4 (65463)

Płyta Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 to akcesorium ćwierćfalowe zaprojektowane do użycia z iluminatorem światła padającego współosiowego Nikon P2-CIA na mikroskopach stereoskopowych, takich jak SMZ25 i SMZ18. Ta optyczna płyta jest używana w mikroskopii światła spolaryzowanego do zwiększania kontrastu i ujawniania drobnych szczegółów w próbkach dwójłomnych lub refleksyjnych. Poprzez wprowadzenie precyzyjnego przesunięcia fazowego między ortogonalnymi składowymi światła spolaryzowanego, płyta umożliwia zaawansowane techniki polaryzacyjne, takie jak obserwacja kolorów interferencyjnych i konwersja między polaryzacją liniową a kołową. Jest szczególnie cenna w naukach o materiałach, geologii, elektronice i kontroli jakości, gdzie wymagana jest szczegółowa analiza powierzchni i ocena właściwości optycznych.

Ta płyta ćwierćfalowa (λ/4) wprowadza przesunięcie fazowe o 90 stopni między promieniami zwykłymi i nadzwyczajnymi w świetle spolaryzowanym, umożliwiając konwersję między światłem spolaryzowanym liniowo i kołowo.

Kompatybilność:
Zaprojektowana do użycia z iluminatorem światła padającego współosiowego Nikon P2-CIA, kompatybilna z mikroskopami stereoskopowymi, takimi jak SMZ25 i SMZ18, zazwyczaj przy użyciu obiektywów 1x.

Kluczowe cechy:

• Zapewnia precyzyjne opóźnienie ćwierćfalowe (λ/4), zazwyczaj zoptymalizowane dla 550 nm (światło zielone)

• Zwiększa widoczność kolorów interferencyjnych i umożliwia analizę różnic w drodze optycznej w materiałach dwójłomnych

• Umożliwia zarówno jakościową, jak i ilościową ocenę właściwości optycznych, takich jak opóźnienie i orientacja

• Przydatna do eliminacji pasm wygaszenia i poprawy klarowności obrazu w badaniach kryształów, minerałów, polimerów i innych próbek anizotropowych

• Łatwo wstawiana pod kątem 45 stopni do polaryzatora i analizatora dla prawidłowego działania

Zastosowania:
Nauki o materiałach do analizy włókien, polimerów i struktur krystalicznych
Geologia i mineralogia do identyfikacji minerałów i pomiaru dwójłomności
Inspekcja elektroniki i półprzewodników do szczegółowej analizy powierzchni
Kontrola jakości i badania z wykorzystaniem zaawansowanych technik polaryzacyjnych

Ta płyta jest niezbędnym narzędziem dla każdego, kto wykonuje zaawansowaną mikroskopię polaryzacyjną, zapewniając precyzyjną kontrolę nad stanem polaryzacji światła i wspierając obrazowanie o wysokim kontraście i dokładności szerokiej gamy próbek dwójłomnych i refleksyjnych.