Nikon P2-CIA QL1X placa Lambda/4 (65463)

La placa Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 es un accesorio de cuarto de onda diseñado para su uso con el Iluminador de Luz Incidente Coaxial P2-CIA de Nikon en microscopios estereoscópicos como el SMZ25 y el SMZ18. Esta placa óptica se utiliza en microscopía de luz polarizada para mejorar el contraste y revelar detalles finos en especímenes birrefringentes o reflectantes. Al introducir un desplazamiento de fase preciso entre componentes ortogonales de luz polarizada, la placa permite técnicas avanzadas de polarización, como observar colores de interferencia y convertir entre polarización lineal y circular. Es particularmente valiosa en ciencia de materiales, geología, electrónica y control de calidad, donde se requiere un análisis detallado de superficies y evaluación de propiedades ópticas.

Esta placa de cuarto de onda (λ/4) introduce un desplazamiento de fase de 90 grados entre los rayos ordinario y extraordinario en luz polarizada, permitiendo la conversión entre luz polarizada lineal y circular.

Compatibilidad:
Diseñada para su uso con el Iluminador de Luz Incidente Coaxial Nikon P2-CIA, y compatible con microscopios estereoscópicos como el SMZ25 y el SMZ18, típicamente cuando se utilizan objetivos de 1x.

Características Clave:

• Proporciona una retardación precisa de cuarto de longitud de onda (λ/4), generalmente optimizada para 550 nm (luz verde)

• Mejora la visibilidad de los colores de interferencia y permite el análisis de diferencias de camino óptico en materiales birrefringentes

• Permite tanto la evaluación cualitativa como cuantitativa de propiedades ópticas como la retardación y la orientación

• Útil para eliminar bandas de extinción y mejorar la claridad de imagen en el estudio de cristales, minerales, polímeros y otras muestras anisotrópicas

• Fácil de insertar en un ángulo de 45 grados al polarizador y analizador para un funcionamiento correcto

Aplicaciones:
Ciencia de materiales para analizar fibras, polímeros y estructuras cristalinas
Geología y mineralogía para identificación de minerales y medición de birrefringencia
Inspección de electrónica y semiconductores para análisis detallado de superficies
Control de calidad e investigación que involucra técnicas avanzadas de polarización

Esta placa es una herramienta esencial para cualquiera que realice microscopía de polarización avanzada, proporcionando un control preciso sobre el estado de polarización de la luz y apoyando la obtención de imágenes de alto contraste y precisión de una amplia gama de muestras birrefringentes y reflectantes.