Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 plaat (65463)

De Nikon P2-CIA QL1X Lambda/4 plaat is een kwartgolfplaat accessoire ontworpen voor gebruik met Nikon's P2-CIA Coaxiale Invallende Lichtverlichter op stereomicroscopen zoals de SMZ25 en SMZ18. Deze optische plaat wordt gebruikt in gepolariseerde lichtmicroscopie om contrast te verbeteren en fijne details in dubbelbrekende of reflecterende specimens te onthullen. Door een precieze faseverschuiving tussen orthogonale componenten van gepolariseerd licht te introduceren, maakt de plaat geavanceerde polarisatietechnieken mogelijk, zoals het observeren van interferentiekleuren en het omzetten tussen lineaire en circulaire polarisatie. Het is bijzonder waardevol in materiaalkunde, geologie, elektronica en kwaliteitscontrole, waar gedetailleerde oppervlakteanalyse en beoordeling van optische eigenschappen vereist zijn.

Deze kwartgolf (λ/4) plaat introduceert een faseverschuiving van 90 graden tussen de gewone en buitengewone stralen in gepolariseerd licht, waardoor conversie tussen lineair en circulair gepolariseerd licht mogelijk is.

Compatibiliteit:
Ontworpen voor gebruik met de Nikon P2-CIA Coaxiale Invallende Lichtverlichter, en compatibel met stereomicroscopen zoals de SMZ25 en SMZ18, meestal bij gebruik van 1x objectieven.

Belangrijkste Kenmerken:

• Biedt precieze kwartgolf (λ/4) vertraging, meestal geoptimaliseerd voor 550 nm (groen licht)

• Verbetert de zichtbaarheid van interferentiekleuren en maakt analyse van optische padverschillen in dubbelbrekende materialen mogelijk

• Maakt zowel kwalitatieve als kwantitatieve evaluatie van optische eigenschappen zoals vertraging en oriëntatie mogelijk

• Nuttig voor het elimineren van extinctiebanden en het verbeteren van de beeldhelderheid bij de studie van kristallen, mineralen, polymeren en andere anisotrope monsters

• Eenvoudig in te voegen onder een hoek van 45 graden ten opzichte van de polarisator en analysator voor correcte werking

Toepassingen:
Materiaalkunde voor het analyseren van vezels, polymeren en kristallijne structuren
Geologie en mineralogie voor mineraalidentificatie en dubbelbrekingsmeting
Elektronica en halfgeleiderinspectie voor gedetailleerde oppervlakteanalyse
Kwaliteitscontrole en onderzoek met geavanceerde polarisatietechnieken

Deze plaat is een essentieel hulpmiddel voor iedereen die geavanceerde polarisatiemicroscopie uitvoert, en biedt precieze controle over de polarisatietoestand van licht en ondersteunt hoog-contrast, nauwkeurige beeldvorming van een breed scala aan dubbelbrekende en reflecterende monsters.